X-형광 석영사 성분 스펙트럼 분석기

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개요

X-형광 석영사 성분 스펙트럼 분석기, X선 파이프에서 나오는 원급 X선 자극 샘플, 샘플에서 발생하는 X선 형광 스펙트럼은 직접 탐지기에 진입한다. 서로 다른 에너지의 X선은 여러 회로를 통해 처리되어 특징적인 X선 형광 스펙트럼 $r$n의 강도를 얻을 수 있다. 그 에너지와 강도에 따라 측정된 샘플의 원소를 정성과 정량 분석한다.

제품 정보

X-荧光石英砂成分光谱分析仪

X-형광 석영사 성분 스펙트럼 분석기，부터 X 방사선관이 방출하는 원급 X 방사선 자극 샘플, 샘플 생성 X 방사선 형광 스펙트럼 직접 탐측기 진입, 서로 다른 에너지의 X 방사선은 여러 회로로 처리되어 특징을 얻을 수 있다 X 방사선 형광 스펙트럼의 강도, 그 에너지 및 강도에 따라 측정된 샘플의 원소에 대해 정성과 정량 분석을 진행한다.

X-형광 석영사 성분 스펙트럼 분석기석영사의 중철, 티타늄, 규소, 알루미늄, 칼슘, 마그네슘, 칼륨, 나트륨 등 원소 함량을 측정하는 데 사용할 수 있으며, 샘플을 파괴할 필요가 없으며, 샘플을 눌러 떡으로 만든 후 직접 측정하여 빠르고 효율적이다.

시료는 연마기를 거쳐 가늘게 갈아낸 후 시료제조기에서 시료를 제조하고, 시료를 제조한 후 시료를 기계에 넣어 검측하며, 전체 측정 과정은 약 30분이며, 화학 분석 경험이 필요 없고, 화학 시약을 사용할 필요가 없어 편리하고 빠르다.계기는 자체 분석 소프트웨어를 가지고 있으며, 자동 계산을 진행할 수 있으며, 측정 가능한 원소는 11호 원소 나트륨-92호 원소 우라늄이다.

기기 판매 후 현장 설치, 디버깅 및 교육 서비스를 제공하며, 화학 실험 인원은 조작 절차와 기교를 신속하게 파악하여 평생 유지 보수 서비스를 제공할 수 있다.

X-형광 분광기 기술 매개변수
모델	XT3는
요소 범위	11#钠 (Na) -92#铀(u)
광로 시스템	계기는 치밀한 결합 광로를 채택한다. XT3 시리즈는 새로운 컴팩트한 결합 광선을 적용한 고감도 기술로 정밀도가 우수합니다.고급 설계는 분석 결과의 변동 범위가 매우 좁음을 보장하여 빛 소비를 줄이고 빛 수익을 증가시킵니다. XT3 시리즈는 X선 광관과 시료, 시료와 검출기 사이의 거리가 이전 기기에 비해 현저히 짧아졌기 때문에 XT3 시리즈는 빛 손실이 적고 더 좋은 성능을 가지고 있다.
탐지기 (수입 브랜드)	최신 New AXAS3.0 H30LE 탐지기 일반 해상도: 126ev 출력 개수율 1500KCPS 봉배비 ≥25000:1 봉꼬리비>1800 냉동 방식: 파르 부착 냉동 기술 프로세서: 다중 채널 분석기 수집 시스템
함량 범위	PPM-100 %
기본 필터	6-10비트 자동 필터다양한 복합재료가 다양한 재료 검사에 대응하여 넓은 범위의 요소 분석에 적합
엑스선관 (수입 브랜드)	Rh 양극 표적; 최대 전력 50W, 최대 전압 50KV
측정 모드	진공 모드: 운영 비용 절감, 경량 요소 분석 성능 향상 공기 모드
샘플 관측	샘플 측정 위치를 정확하게 기록하는 내장형 HD 카메라 (옵션)
샘플 종류	분말, 고체, 압편, 융편, 액체
소프트웨어 알고리즘	샘플링 분석 없음 (옵션) 표준 물질 없이 원소 함량을 분석할 수 있다 표준곡선법, 이론계수법, 기본매개변수법 등
전원	220V 50Hz의
작업 환경	온도 범위: 5-30 ℃ 습도 ≤ 80%
크기 사양 가로 x 세로 x 두께;무게	800mmx480mmx530mm 70kg

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