엑스선 발사 분광기

국창과엑스선 발사 분광기SuperXAFS E6000은

핵심 매개변수

1. 에너지 범위: 5-18keV

2. 에너지 해상도: ≤2.0eV@ (7-9keV)

3. 에너지 중복성: ≤30meV@24h

4. X선 소스: 구성 전력 ≥ 100W 마이크로 초점 반점 × 선 소스 (2개 표적 Pd/W), 전압 20-40kV, 튜브 전류 4mA, 코어 - 빈혈 생성 속도 ≥ 1011/s @ (7-9keV)

5.면 탐지기: 모세관 초점경을 장착하고, 샘플에 초점 반점 ≤ 100um, 초점경은 자동으로 전환할 수 있다

6. 메커니즘 정밀도 조절: 에너지 스캔 시 최소 단계 0.1eV

국창과엑스선 발사 분광기SuperXAFS E6000은

‌

은 원소의 정성 및 정량 분석에 사용되는 계측기로서, 주요 역할은 다음과 같습니다.

샘플 중의 원소 구성을 확정한다: 금속, 광석, 토양, 생물 샘플 등에 광범위하게 응용된다.

원소 함량 측정: 특징인 X선의 강도를 분석하여 샘플의 각 원소의 질량 점수를 정량적으로 계산하여 정밀도가 ppm급 (백만분의 1) 에 달한다.

비파괴성검사: 시료를 파괴할 필요가 없으며 문화재, 도금층, 박막 등 특수시료의 분석에 적용된다.

XRF는 빠르고 비파괴적이며 다원소 분석 기능으로 다음과 같은 분야에 널리 사용되고 있습니다.

1. 재료 과학 및 산업

금속성분분석: 강철, 알루미늄합금, 전자부품중의 합금원소검측.

도금 및 필름 검사: 코팅 두께(예: PCB 판 도금층)와 성분(예: 플라스틱 표면 금속 도금층)을 측정합니다.

반도체 재료: 실리콘 칩의 불순물 원소를 분석 (칩의 순도를 확보합니다.

2.지질 및 광산 탐사

광석 성분 분석: 광석 중의 금속 원소 함량을 신속하게 검측하고 채광과 선광을 지도한다.

암광 감정: 원소 구성을 통해 암석 유형(예를 들어 화강암, 현무암)을 구분하고 지질 구조 연구를 보조한다.

3.환경 및 생태 모니터링

토양과 수질오염 검측: 중금속 함량을 분석하고 환경오염 정도를 평가한다.

고폐와 위험물 분석: 공업 폐기물 중의 유해 원소를 감별하고 쓰레기 분류와 처리를 지원한다.