엑스선 흡수 스펙트럼

엑스선 흡수 스펙트럼일반적인 X광원을 리용하여 X선흡수정밀구조 (XAFS) 의 스펙트럼측정을 실현하면 동기복사 등 중대한 과학기술기초시설 및 전자현미경, X선연사기 등 과학계기에 아주 좋은 보충과 확장역할을 한다.이 제품은 현재 이미 북경대학, 북경항공항천대학, 천진대학, 화북전력대학, 청해대학, 안휘대학 등 많은 대학교에 의해 선택구매되여 관련 과학연구와 응용개척을 효과적으로 조력하고있다.

사용이 간편한 소형 데스크탑 시스템:

· 근접 스냅샷 기능 지원;

· 제자리 테스트 등 확장 기능 지원;

· 인체공학은 고도로 설계되어 조작이 더욱 편리하다;

· 실험 매개변수 사전 설정을 내장하여 빠른 측정을 실현한다;

· 서로 다른 샘플, 서로 다른 측정 모드 원클릭 자동 전환;

· 원격 데이터 전송, 실시간 실험 프로세스와 결과 표시 무인 테스트 지원;

· 전문적인 어플리케이션 기술 지원 및 데이터 분석 지원

· 계기는 복사면제자질과 다중안전방호련쇄를 구비하여 인신과 사용안전을 보장한다.

XAFS 전용 커브:

· 서로 다른 결정면의 배치가 완비되어 각 원소의 커버를 실현한다;

· 사전 준직 설치, 플러그 앤 플레이;

· 필요한 요소에 따라 특수 커브를 사용자 정의하여 최적의 성능을 얻을 수 있습니다.

엑스선 흡수 정밀 구조(XAFS) 스펙트럼엑스선 흡수 스펙트럼 테스트에너지 스캐닝 메커니즘:

· 연동 스캐닝 기구;

· 광원, 커브, 샘플과 탐측기의 정밀한 연동을 실현한다;

· 정밀도와 해상도가 높고 안정성이 좋다.