와이드 스펙트럼 엑스선 흡수 스펙트럼

국창과 의와이드 스펙트럼 엑스선 흡수 스펙트럼SuperXAFS T2000는

핵심 매개변수

1.에너지 범위:2-20keV
2.샘플 부위 광선량:≥4×10⁶광자/초 @7-9 keV

3.에너지 해상도:0.4-0.9eV@2-5keV는
4.에너지 중복성：≤30 meV@24h
5.메커니즘 정밀도 조정:에너지 스캔 최소 단계 0.1eV

적용 가능성 이 높다

모든 일반적인 샘플 테스트를 만족시키는 동시에 인, 칼륨, 악티늄계, 유독, 유방사성 샘플 등 특수 샘플 테스트도 만족시킬 수 있다.

조작이 편리하다.

1. 다양한 요소 매개변수를 내장하여 측정을 빠르게 전환합니다.
2. 샘플링 데이터베이스를 제공하여 분석 절차를 간소화한다.
3.여러 샘플의 자동 채집을 지원하여 샘플링 횟수를 감소시킵니다.
4.원격 실시간 모니터링, 다중 보안 잠금 설계.

국창과 의와이드 스펙트럼 엑스선 흡수 스펙트럼SuperXAFS T2000는

X선 흡수 정밀 구조 분광기(XAFS/XES)는 재료의 국부 구조와 전자 상태를 연구하는 데 사용되는 비파괴 기술이다.이 기술은 X선과 물질의 상호작용을 이용하여 지정된 원소의 근접 흡수 스펙트럼(XANES), 확장 원변 흡수 스펙트럼(EXAFS) 및 특정 에너지 대역 발사 스펙트럼을 획득하여 각각 원소의 화학 상태와 가격, 원자 주변 국부 환경의 배위 구조를 분석하고 측정 원소의 배위 원자 카테고리를 선별하는 데 사용되며, 결정 상태와 비결정 재료의 미시적 배위 구조를 나타내는 중요한 수단이다.XAFS/XES는 주로 촉매, 합금, 세라믹, 환경 오염 물질, 각종 결정 및 비결정 재료 및 생물 샘플 내 금속 이온의 가격 상태, 배위 구조 및 전자 상태 분석 및 재료 국부 구조가 열장, 광장, 전장과 자기장 변화에 따른 국부 구조의 동적 진화 과정 연구 등에 응용된다.