초고광 통량 X선 흡수 정밀 구조 스펙트럼

동기식 방사선 장치를 실험실로 "들여보내기"

초고광 통량 X선 흡수 정밀 구조 스펙트럼이점

신뢰할 수 있는 데이터: 동기식 방사선과 높은 데이터 일관성

에너지 범위: 4.5-15keV, 20keV까지 확장 가능

테스트 원소: 3d, 5d, 희토류 원소 과도 금속 테스트 실현

자주적 통제 가능: 90% 부품 자주적 통제 가능, 정책 위험 없음

다수확: 1년 동안 고객이 고급 논문 120여 편을 발표하도록 돕는다

고성능: 1시간 이내에 1% 샘플 테스트 완료

하이라이트: > 2000000 photons/sec@8keV

간편한 사용: 반나절 교육으로 온라인 운영 가능

낮은 유지 관리 비용: 전담 유지 관리, 운영, 관리 등 필요 없음

초고광 통량 X선 흡수 정밀 구조 스펙트럼원리

X선 흡수 정밀 구조 (X-ray Absorption Fine Structure, XAFS) 는 X선 흡수 스펙트럼 (X-ray Absorption Spectroscopy, XAS) 이라고도 하며, 동기 방사 광원을 기반으로 재료의 국역 원자 또는 전자 구조를 연구하는 강력한 도구로 촉매, 에너지, 나노 등 열자 분야에 널리 응용된다.

RapidXAFS는 독특한 Johann형 롤랜드 원 단색기로 설계되어 동시 방사 광원 없이 점 광원에서 발사된 X선이 Bragg 방정식을 만족시키고 회절이 발생하여 롤랜드 원의 탐지기에 다시 모여 Bragg 각도를 변경하여 서로 다른 에너지의 단색광을 획득함으로써 현재 일반 실험실에서 고품질의 XAFS 테스트를 진행하고 있다.

XAFS 스펙트럼:

엑스선 흡수 근접 구조(XANES)

확장 엑스선 흡수 정밀 구조(EXAFS)

EXAFS는

에너지 범위는 대략 흡수 변 후 50eV에서 1000eV까지이며, X선이 자극하는 내층 광전자가 주변 원자와 흡수 원자 사이의 단일 전자 단일 산란 효과의 결과에서 비롯된다.

XANES는

흡수변 전 약 10eV에서 흡수변 후 약 50eV의 범위는 주로 X선이 자극하는 내각층 광전자가 주변 원자와 흡수원자 사이의 단전자 다중 산란 효과에서 비롯된다.