자외선계

자외선계 모델: JKH71-UV1800 시리즈

특징:
1.새로운 디자인의 비례 모니터링 이중 빔 광학 시스템은 우수한 광학 성능을 제공한다;고성능의 홀로그램 플래시는 계기의 낮은 잡산광을 확보하였다.
2. 선진적인 회로 측정 제어 시스템을 설계한다.기구로 하여금 고도의 안정성과 극히 낮은 소음을 가지게 하다.
3. 탈부착 가능한 구조의 견본실 설계로 다른 부속품을 쉽게 교체할 수 있습니다.서로 다른 분석 수요를 만족시키다.
4.넓은 개방형 광원실 설계로 조명 원본 교체가 더욱 편리합니다.
5. 핵심 부품은 모두 수입 부품을 선택한다.계기 성능의 높은 신뢰성을 보장하였다.
6.windows 환경에서 개발된 중영문 운영 소프트웨어,.독특한 분석 기능을 풍부하게 제공하였다..

성능 지표:
1.측광 방식: 투과율, 흡광도, 에너지, 반사율
2. 파장 범위: 190nm~1100nm
3. 스펙트럼 대역폭: 2nm
4. 잡산광: 0.05%T(220nm, 360nm)
5. 파장 정확도: ±0.5nm
6. 파장 반복성: 0.2nm
7.광도 범위: -3A~3A
8. 광도 정확도: 0.3%T(0-100%T)
±0.002A (0-0.5A)
±0.004A (0.5-1A)
9. 광도 반복성: 0.001A(0-0.5A) 0.002A(0.5-1A)
10. 베이스라인 평직도: ≤±0.002A
11. 안정성: ≤±0.001A/h
12. 노이즈: ≤±0.001A
13. 전원: 110/220V, 50/60Hz

기기 기능:
1. 광도 측정: 1~6개 파장의 투과율과 흡광도를 동시에 측정할 수 있다.
2. 스펙트럼 측정: 파장 범위 내에서 투과율, 흡광도, 투과율, 반사율과 에너지의 스펙트럼 스캐닝을 하고 각종 데이터 처리를 할 수 있다. 예를 들어 피크 밸리 검측, 도수 연산, 스펙트럼 연산 등이다.
3. 정량측정: 단파장, 이중파장, 3파장과 다파장 측정.1~9시 작업곡선(1~3회) 회귀 4. 동력학 측정: 임의로 설정된 파장에서 투과율과 흡광도의 시간 스캔을 하고 각종 데이터 연산을 할 수 있다.
5. 데이터 출력: 데이터 파일 및 매개변수 파일에 액세스할 수 있으며 측정 결과는 표준 일반 데이터 파일 형식으로 출력됩니다.

PC 버전 소프트웨어 기능: Windows 환경에서 개발된 UVCON 제어 소프트웨어를 기반으로 호스트를 완벽하게 제어할 수 있습니다.

데이터 수집 (단일 측정, 다중 측정, 스펙트럼 스캔, 정량 측정, 시간 스캔 및 DNA 측정) 및 다양한 데이터 처리가 포함됩니다.

표준화, 피크 밸리 검측, 면적 계산
스펙트럼의 확대, 축소, 매끄러움, 카운트다운, 4칙 연산, T-A 변환
단파장, 다파장 정량 측정
K 계수법, 원점 작업 곡선법, 다점 작업 곡선법, 함수 의합 1~3회 가능
정량 분석에서의 이상점 제거법
커브 계수 보정 가능
스펙트럼, 작업 곡선 및 테스트 결과를 스캔하여 대용량 저장 가능
테스트 보고서를 표준 파일 형식으로 내보내기