사이머페이 EscaLabXi+ X선 광전자 분광기

사이머페이 EscaLabXi+ X선 광전자 분광기특징:

고감도 스펙트럼

소형 XPS

심층 분석 능력

각도 분별 XPS

표준 이온 산란 스펙트럼(ISS) 기능

반사 전자 에너지 손실 스펙트럼(REELS) 기능 기본 제공

표준 샘플 사전 처리실

다기능 분석의 다기능

여러 샘플 제조 기술 옵션

전자동 무인 경비식 분석

다중 샘플 분석

단색화 엑스선 소스

이중 결정 마이크로 포커스 단색기는 500mm 직경의 롤랜드 원을 갖추고 알루미늄 양극 표적을 사용한다

시료 엑스선 반점 크기 선택 가능 범위는 200~900μm이다

렌즈, 분석기 및 검출기

렌즈, 분석기 및 검출기가 XPS 감지 시스템 + XPS 분광기를 구성하여 이미징 및 마이크로 영역에서 분석할 수 있습니다.단일의

두 가지 유형의 검출기는 각 분석에 최적의 검출을 보장합니다. 이미징을 위한 2D 검출기와 높은 계수율 검출을 위한 전자 증폭기입니다.

렌즈는 두 개의 컴퓨터가 제어하는 홍채 기구를 갖추고 있다. 하나는 사용자가 렌즈의 시야를 <20μm 이하로 제어하여 마이크로 구역 분석을 할 수 있도록 하고, 다른 하나는 렌즈의 수신 각도를 제어하여 고품질 각도로 데이터를 분별할 수 있도록 한다

180도 반구형 에너지 분석기

심층 분석

수치제어식 EX06 이온총은 고성능 이온원으로서 저에너지 이온원을 사용할 때에도 좋은 성능을 가지고 있다

방위각 샘플 회전 제공

다기능

XPS 테스트 성능 저하 없이 추가 분석 기술 제공

EX06 이온총을 사용할 때 렌즈 그룹과 에너지 분석기의 전원이 거꾸로 전환됨(이온산란 스펙트럼(ISS) 사용 가능 확인)

전자총은 가압을 1000V까지 높여 REELS에 우수한 이온원을 제공할 수 있다

기술 옵션

단색화되지 않은 X선 광원에 대한 XPS 분석

AES(오쉬 전자 스펙트럼)

UPS(자외선 전자 스펙트럼)

사이머페이 EscaLabXi+ X선 광전자 분광기진공 시스템

5mm 두께의 높은 자기 전도성?금속 분석실, 자기 차폐 효율 향상

내부 또는 외부 차단 방법을 사용하는 것보다 차단 효과가 더 좋습니다.

샘플 제조

시스템은 일체화된 빠른 샘플링실과 제조실을 표준으로 배치한다.

추가 준비실 옵션

Avantage 데이터 시스템

계측 제어, 데이터 수집, 데이터 처리 및 보고 생성을 포함한 테스트 분석의 모든 측면 통합

원격 제어가 가능하고 타사 소프트웨어(예: Microsoft Word)와 쉽게 상호 작용할 수 있음

샘플 로드에서 보고서 내보내기에 이르는 전체 분석 프로세스 관리