열장 발사 스캐닝 전자 현미경

///본 것을 초월하여 미지를 탐색하다///

JSM-IT710HR 하전감소: 견본제공: 도꾜농공대학 공학부 생명공학과 조창철랑선생

JSM-IT710HR 결정 구조 분석: 샘플 제공: 물질 재료 연구소 (NIMS) 진 겸 창 선생

새로운 기능

1. 자동 관찰: Simple SEM/EDS

Simple SEM은 여러 조건을 한 번에 설정하여 자동으로 테스트함으로써 일상적인 생산성을 향상시킵니다.

2. Live 3D: 실시간 3D

낮은 배율에서 3D 활성 이미지를 관찰할 수 있습니다.

3. JSM-IT710HR열장 발사 스캐닝 전자 현미경저진공 혼합 2차 전자 검출기(LHSED)

LHSED는 빛 발사 정보와 형상 사이를 전환해 관찰할 수 있는 신형 저진공 검출기다.

4. 쇼트키장 전자총 발사 안정성 4배 이상 향상

> 자동 번들 조정

JSM-IT7010HR은 합축에서 상산, 초점에 이르기까지 번거로운 수동 없이 자동으로 조정할 수 있다.

> 2차 전자 검사 시스템

왼쪽 샘플: 공작새 깃털, 오른쪽 샘플: 섬유소 마이크로섬유

> 고해상도 및 대형 스트림

JSM-IT710HR의 쇼트키 필드 발사 전자총과 집광경이 일체형으로 통합되어 큰 빔 흐름을 생성하면서 작은 빔 반점을 유지하여 고해상도 관찰과 분석을 할 수 있다.

> 백산란 전자 검사 시스템

새로운 다분할 백산란 검출기는 동시에 4개 방향에서 백산란 정보를 수집하여 간단한 3D 이미지를 생성하고 실시간으로 표시할 수 있다.

5. 모든 분석은 제로맥에서 시작

Zeromag의 광학상을 사용하여 시야 검색 능력이 향상됩니다.SEM 이미지는 광학 이미지와 연동되어 관찰, 분석 및 자동 테스트를 단순화합니다.

6. JSM-IT710HR열장 발사 스캐닝 전자 현미경EDS 통합

JEOL은 SEM 외에도 EDS를 자체 생산하고 판매합니다.이를 통해 SEM의 관찰 화면과 EDS 분석 결과를 중앙 집중식으로 조작하고 관리할 수 있어 활용성과 데이터 관리 능력이 향상됐다.

7. 열장 발사 스캐닝 전자 현미경상호 분석

JEOL의 EDS는 각 물질(화합물/단일체)에 대한 면 분포 분석이 가능한 위상 분석 기능을 추가했다.

샘플: 정밀 절삭 블레이드의 단면

분석에 따르면 Co, Cu 및 Sn 리치 영역의 그룹에는 차이가 있습니다.

공동 지역: 68.15%

CuSn (CuRich) 지역: 16.25%

CuSn (SnRich) 지역: 14.54%