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북경시 해전구 청하안녕장동로 18호 23호동 2층
Beijing Chuangheng Kejie Technology Co., Ltd
북경시 해전구 청하안녕장동로 18호 23호동 2층
TM4000 데스크탑 선글라스저진공 조건에서 다양한 관찰이 가능하며,정전기가 발생하기 쉬운 분말이나 물 함유 등의 샘플은 그 목적과 결합하여 관찰할 수 있다.

전통적인 전도성 샘플을 관찰할 뿐만 아니라 사전 처리 없이 절연물과 물 함유, 기름 함유 샘플을 관찰할 수 있다.2차 전자상과 백산란 전자상 사이를 빠르게 전환할 수 있다.
고감도 저진공 2차 전자 검측기
고감도 저진공 2차 전자 검출기(UVD)를 사용한다.전자선과 잔류 가스 분자 간의 충돌로 발생하는 빛을 감지함으로써 2차 전자 정보가 있는 이미지를 관찰할 수 있다.또한 이 검출기를 제어하여 전자 조사로 발생하는 빛을 감지하면 CL 정보(UVD-CL: CL 정보가 있는 이미지)를 얻을 수 있습니다.

고감도 저진공 2차 전자 검측기의 검측 원리

TM4000 Ⅱ/TM4000Plus II는 가속 전압 20kV를 지원합니다.
EDS 분석 (옵션) 을 사용하여 더 높은 계수 해석을 수행할 수 있습니다.

TM4000 데스크탑 선글라스새롭게 개발한 STEM 시료대 및 고감도 저진공 이차전자검출기(UVD)와 함께 사용하면 소배율 STEM 이미지를 쉽게 관찰할 수 있다.
박막 샘플과 생물 샘플을 쉽게 관찰할 수 있다.

샘플: 쥐 신장
가속전압: 15kV
관찰 신호: STEM 이미지
배율 확대: 1000배

샘플: 쥐 간
가속전압: 15kV
관찰 신호: STEM 이미지
배율: 5000배