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TM4000 데스크탑 선글라스

협상 가능업데이트05/07
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin

개요

TM4000 데스크탑 선글라스*의 저진공 시스템으로 시료는 아무런 처리 없이 신속하게 관찰할 수 있습니다.TM4000 최적화는 5kV, 10kV, 15kV 세 가지 서로 다른 전압에서의 관찰 모드를 제공하며, 각 모드에서 전류 4단을 조정할 수 있고, 4분할 백산란 탐지기를 장착하여 네 가지 서로 다른 방향의 이미지 정보를 수집할 수 있으며, 샘플에 대해 다양한 모드 영상을 진행할 수 있다.새로운 SEM-MAP 탐색 기능과 함께 선글라스 그림을 보고 형식으로 내보낼 수 있습니다.대형 샘플 창고를 갖추고 있으며, 큰 샘플의 직경 80mm, 두께 50mm를 수용할 수 있다.

제품 정보

TM4000 데스크탑 선글라스저진공 조건에서 다양한 관찰이 가능하며,정전기가 발생하기 쉬운 분말이나 물 함유 등의 샘플은 그 목적과 결합하여 관찰할 수 있다.

저진공 조건에서 2차 전자상 (표면 모양) 관찰을 할 수 있다.

사전 처리 없이 절연물과 물, 기름 함유 시료의 표면도 관찰할 수 있다

전통적인 전도성 샘플을 관찰할 뿐만 아니라 사전 처리 없이 절연물과 물 함유, 기름 함유 샘플을 관찰할 수 있다.2차 전자상과 백산란 전자상 사이를 빠르게 전환할 수 있다.

고감도 저진공 2차 전자 검측기

고감도 저진공 2차 전자 검출기(UVD)를 사용한다.전자선과 잔류 가스 분자 간의 충돌로 발생하는 빛을 감지함으로써 2차 전자 정보가 있는 이미지를 관찰할 수 있다.또한 이 검출기를 제어하여 전자 조사로 발생하는 빛을 감지하면 CL 정보(UVD-CL: CL 정보가 있는 이미지)를 얻을 수 있습니다.

고감도 저진공 2차 전자 검측기의 검측 원리

가속 전압 20kV 지원

TM4000 Ⅱ/TM4000Plus II는 가속 전압 20kV를 지원합니다.

EDS 분석 (옵션) 을 사용하여 더 높은 계수 해석을 수행할 수 있습니다.

20kV의 가속 전압을 통해 EDS 요소 분포도의 높은 S/N화

EM 견본 데스크(옵션)

STEM 이미지를 쉽게 볼 수 있습니다.

TM4000 데스크탑 선글라스새롭게 개발한 STEM 시료대 및 고감도 저진공 이차전자검출기(UVD)와 함께 사용하면 소배율 STEM 이미지를 쉽게 관찰할 수 있다.

박막 샘플과 생물 샘플을 쉽게 관찰할 수 있다.

샘플: 쥐 신장

가속전압: 15kV

관찰 신호: STEM 이미지

배율 확대: 1000배

샘플: 쥐 간

가속전압: 15kV

관찰 신호: STEM 이미지

배율: 5000배