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TEM 소실-IC 테스트

협상 가능업데이트05/18
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin

개요

최대 8GHz 주파수의 TEM 소실은 IEC 61967-2, IEC 61967-8, SAE 1752-3, IEC 62132-8 및 GB/T 42968.2-2024 표준 IC 테스트에 사용할 수 있다.

제품 정보

FF-T01A는 최대 8GHz의 TEM 소실로 FCC-TEM-JMC를 표시하며 IC 테스트에 적합하다.

FF-T01A는 장비의 작동 주파수 범위를 기존 장비에 미치지 못하는 영역으로 확장하여 IC 집적회로를 8GHz에서 시작하는 전도 송신 및 내섭도 테스트를 진행할 수 있으며, 이 집적회로는 고정식 테스트 창에 설치되어 설치가 완료되면 IEC 61967-2, IEC 61967-8, SAE 1752-3, IEC 62132-8 및 GB/T 42968.224 표준에 따라 테스트할 수 있다.IC 테스트는 더 이상 YDT 1690.2-2007의 이전 표준을 사용하여 집적회로를 완성하는 EMC 테스트의 방사선 내섭도 테스트 프로젝트에 국한되지 않습니다.



제품군은 맞춤형 개발을 지원합니다.

매개변수:
폼 팩터: 68*28*16mm

적용 빈도: DC-8GHz

VSWR: <1.2


TEM小室-IC测试