TEM 소실-IC 테스트

FF-T02A는 최대 3GHz의 TEM 소실로 FCC-TEM-JMC를 표시하며 IC 테스트에 적합하다.

FF-T01A는 장비의 작동 주파수 범위를 기존 장비에 미치지 못하는 영역으로 확장하여 IC 집적회로를 3GHz에서 시작하는 전도 송신 및 내섭도 테스트를 할 수 있다. 이 집적회로는 고정식 테스트 창에 설치되어 설치가 완료되면 IEC 61967-2, IEC 61967-8, SAE 1752-3, IEC 62132-8 및 GB/T 42968.2-2024 표준에 따라 테스트할 수 있다.IC 테스트는 더 이상 YDT 1690.2-2007의 이전 표준을 사용하여 집적회로를 완성하는 EMC 테스트의 방사선 내섭도 테스트 프로젝트에 국한되지 않습니다.

제품군은 맞춤형 개발을 지원합니다.

매개변수:
폼 팩터: 274*127*61mm

적용 빈도: DC-3GHz

VSWR: <1.2