실리콘 오일 도포 분석기

테스트 원리

소프트웨어 프로그램 제어를 통해 x선 발생로에 적합한 x선을 생성하여 테스트 박막 재료 중의 si 또는 기타 원소를 자극하고 x선에 자극된 후 불안정한 상태가 된다. 고에너지층의 전자는 빈 구멍으로 이동하여 동시에 특정 에너지를 방출하여 탐지기에 의해 수신된다. 각 원소는 자신의 특정한 에너지 특징선이 있기 때문에 탐지기의 식별, 컴퓨터 소프트웨어의 계산을 통해 이 원소를 정확하게 식별하고 함량을 계산할 수 있다.· 기기만 대면적의 품체규소표류탐측기를 채용하여 해상도가 125eV에 달하고 AK알루미니움) 원소와 si (규소) 원소를 분별할수 있다.

기술적 특징

테스트는 엑스선 형광 스펙트럼 원리를 채택하여 테스트 과정에 소모품이 필요 없다

· 광관 수직 조사, 실리콘 원소 성능 더욱 강한 자극

테스트 하한선이 좋아 0.01ghn'의 규소 도료량을 정확하게 측정할 수 있다

· 대면적의 규소표류탐측기를 채용하여 시험결과가 극히 정확하다

고화질 액체 모니터 구성, 테스트 프로세스 및 테스트 결과 한눈에 확인

장치에 여러 u 인터페이스가 통합되어 데이터 및 통신 전송이 다양한 요구 사항 충족

공기 광로 내부 환경이 현저하게 최적화되어 대기 환경과 마찬가지로 직접 테스트할 수 있다

클릭 한 번으로 테스트 / 조작이 단순하고 지능적이며 테스트 프로세스 사용 시간이 짧고 결과가 정확함

새로운 모델 알고리즘을 빠르게 도입하여 경량 요소의 측정 안정성을 크게 향상