스캐닝 전이율 입경 스펙트럼

3757형 나노 증강기

입경 범위

최소 검사 가능

입자(D50): 1.4nm(전기이동률 지름, 기하학적 지름 1.1nm), 염화나트륨 입자로 검증

트래픽

에어로졸 유속: 2.5L/min

에어로졸 수출 유속: 1.0 L/min

수송량: 1.5L/min

흐름: 외부 진공

흐름 제어: 볼륨 흐름은 전송 흐름 내부 구멍에 의해 제어됩니다.에어로졸 유속은 3750형 CPC에 의해 제어된다.

에어로졸 매체

공기와 함께 사용하는 것이 좋습니다.질소, 아르곤 및 헬륨과 같은 불활성 가스와 안전하게 사용할 수 있습니다 (공기에 대한 기술적 매개 변수).

액체 계통

글리콜 (DEG, ≥ 99%, 제외) 은 작업액으로 사용된다.수분 분리기와 건조기 건조 칼집을 재충전할 수 있다.내부 배수펌프로 응축수를 제거하는 것이 좋습니다.

통신

내장형 터치 디스플레이, USB-C 타입으로 나노 증강기를 3750형 CPC에 직접 연결할 수 있다.

필요한 액세서리

전기: 100 to 240VAC, 50/60Hz, 최소 출력 240W. 내부 전원 장애 자동 복구

진공: 최소 압력 60kPa(18 in Hg)(대기압보다 낮음)

포함: 물 주입 및 물병 배출기, 건조기

물리적 특성

크기: (H x W x D) 30x28.2x32.5cm(11.8x11x12.6in.), 주물병 및 스탠드 제외

무게: 9.1kg(20lbs)

1nm CPC 시스템(3757형 나노 증강기 및 3750형 CPC)

입경 범위

최소 검사 가능

입자(D50): 1.4nm(전기이동률 지름, 기하학적 지름 1.1nm), 염화나트륨 입자로 검증

입자 농도 범위

0 - 3x105 입자/cm3, 단일 입자 연속 계수, 실시간 정합성 보정.

입자 농도 정밀도

<1.65 x 105 입자/cm3의 경우 ±10%, 3 x 105 입자/cm3의 경우 ±15%

오류 개수 배경

<0.01 x 105 입자/cm3, 12시간 평균 기준

응답 시간

<4s 95% - 농도 변동 응답

디렉토리 항목

모델 설명

3757-50 1nm 응집 핵입자 계수기

3032 진공 펌프 110V

3032-1 진공 펌프 230V/50Hz

3750-MKIT CPC 수리 도구

3750-WKIT CPC 흡액심 교체 도구

3772200 환경 샘플링 시스템

스캐닝 전이율 입경 스펙트럼

모델: 3938

TSI3938, tsi가 출시한 SMPS TM 스캔 전기 이동률 입경 분광기는 1마이크로미터 이하의 에어로졸 입경 분포를 측정하는 측정 표준에 널리 응용되고 있다.이 시스템은 액체 부상 입자에 대한 정확한 나노 입자 입경 측정에도 적용된다.미국 국립표준기술국(NIST)은 TSI 차분 정전기 마이그레이션 분석기(DMA)를 사용하여 60nm와 100nm의 표준 참조 입경을 측정한다.SMPS TM 스캔 전이동률 입경 분광기 입경 측정은 입경 분포의 형태를 가정하지 않고 농도를 계수하는 신중한 기술이다.이 방법은 입자나 액체의 굴절률에 의존하지 않고 고도의 절대 입경 측정 정밀도와 측정 중복성을 가지고 있다.3세대 3938형 SMPS는 모듈식 구성 요소 기반 설계로 매우 높은 입경 해상도뿐만 아니라 빠른 스캔(스캔당 15초 미만) 및 자동 구성 요소 인식 기능을 갖추고 있다.TSI SMPS는 사용하기 쉽고 연구원에게 최고 품질의 데이터를 제공할 수 있어 연구원들이 나노입자의 입경 분포 측정을 할 수 있는 가장 좋은 선택이다.TSI의 3938형 기기는 SMPS 3세대 제품으로 30년 동안 연구자들의 신임을 받았다.

적용

· 나노기술 연구와 재료 합성

· 대기 연구 및 환경 검사

· 공정나노재료과학연구

· 필터 및 공기청정기 테스트

· 연소 및 엔진 배출 연구

· 실내 공기 질량 측정

· 성핵/응결 연구

· 흡입독리학 연구

구성 요소 포함

· 직접 선택한 DMA 차등 정전기 마이그레이션 분석기와 함께 제공되는 정전기 분류기

· 7가지 응집 입자 계수기 중 하나

· Aerosol Instrument Manager®에어로졸 기기 관리 소프트웨어

데이터 수집용 컴퓨터는 별도로 구입해야 합니다.

기능:

SMPS 입자 스펙트럼은 3082형 정전기 분류기, 3086형 1nm DMA, 3757형 나노 증강기, 3750형 응집 핵입자 계수기 등 다음과 같은 구성 요소로 구성되어 있다.

+ 고해상도 입경 분포;

+ 10배 입경당 64개 채널

+ 1-50nm 간 채널 수 > 109개

+ 유연성이 극대화된 어셈블리 설계

+ 1nm-50nm 너비 입경 범위

+ 3081a형 길이 DMA와 함께 1nm에서 1µm까지 10배 입경 3개의 입경 분포를 측정할 수 있음

+ 최소 확산 손실 및 시스템 통합에 최적화

+ 에어로졸 계측 관리자(AIM) 소프트웨어를 사용한 통합 시스템 운영

+ 정밀 입자 측정: 다중 모드 시료용

참고: 미국 TSI 입경 분광기 3938, 미국 TSI 스캔 전기 이동률 입경 분광기 3938, 미국 tsi3938, 대리 미국 TSI 스캔 전기 이동률 입경 분광기 3938, TSI3938, TSI 입경 분광기, tsi 입자 분광기.