스캔/투과 전자 현미경

JEOL JSM-7610FPlus 스캔/투과 전자 현미경은 반침몰식 대물렌즈와 High Power Optics 조명 시스템을 사용하여 안정적인 고공간 해상도 관찰 및 분석을 제공합니다.또한 GENTLEBEAMTM 모드를 이용한 저가속 전압 관찰, r-filter 선별 신호 등을 통해 다양한 요구를 충족할 수 있는 높은 확장성을 갖췄다.

　　Jeol jsm-7610피트 이상스캔/투과 전자 현미경반침몰식 물안경과 High Power Optics 조명 시스템을 사용하여 안정적인 고공간 해상도 관찰 및 분석을 제공합니다.또한 GENTLEBEAMTM 모드를 이용한 저가속 전압 관찰, r-filter 선별 신호 등을 통해 다양한 요구를 충족할 수 있는 높은 확장성을 갖췄다.침몰식 쇼트키장은 전자총을 발사하면 기존 쇼트키장 발사 전자총 (FEG) 의 10배에 달하는 탐침 전류를 얻을 수 있고, 광맹장 제어경 (ALC) 은 탐침 전류가 커질 때도 작은 빔 반점을 유지할 수 있으며, 둘을 조합하면 200nA 이상의 탐침 전류를 제공할 수 있다.고배율 이미지 관찰부터 EDS 분석 및 EBSD 해석까지 고해상도 소물경 광선을 변경할 필요 없이 계속 사용할 수 있는 강력한 High Power Optics 시스템.광맹각 제어경(ACL)은 대물렌즈 위에 배치되어 전체 탐침 전류 범위 내에서 대물렌즈의 광맹 각도를 자동으로 최적화한다.따라서 시료를 비추는 탐침의 전류가 매우 크더라도 전통적인 방식에 비해 아주 작은 전자빔 반점을 얻을 수 있다.

　　Jeol jsm-7610피트 이상스캔/투과 전자 현미경 사양:

1. 이차전자상 해상도: 0.8nm(가속전압 15kV), 1.0nm(가속전압 1kV), 분석시 3.0nm(가속전압 15kV, WD8mm, 프로브전류 5nA)

2.가속전압: 0.1~30kV

3. 프로브 전류: 수 pA~200nA

4. 전자총: 침몰식 쇼트키장 발사 전자총

5. 렌즈 시스템: 집광경, 광맹각 제어경, 반침몰식 물안경

6.견본대: 전체 쌍 중측각 견본대, 5축 모터 구동

7. 전자측정기 제품군: 고위측정기, r‐필터 내장, 저위측정기

8. 자동 기능: 자동 초점, 자동 소상산, 자동 밝기/라이닝 조절

9. 이미지 관찰용: 평면 패널 모니터

10. 화면 크기: 23형 와이드스크린