SRM 1976c 산화알루미늄 X선 분말 연사 표준품

SRM 1976c 산화알루미늄 X선 분말 연사 표준품 소개:

NIST 상품번호: SRM 1976c

제목: Instrument Response Standard for X-Ray Powder Diffraction

중국어 이름: 산화 알루미늄 X선 분말 연사 표준품

사양: 1 disc

유효 기간:

SRM 1976c의 인증은 본 인증서의 지침에 따라 SRM이 처리되고 저장된다는 전제하에 규정된 측정 불확정도 범위 내에서 무기한 유효합니다 ("저장 및 사용 지침"참조).정기적으로 SRM을 재인증할 필요는 없습니다.SRM이 손상되거나 오염되거나 다른 방식으로 수정된 경우 인증은 유효하지 않습니다.

재료 설명:

이러한 SRM 생산을 위한 제조 프로세스는 전자 부품 기판을 생산하기 위해 개발되었습니다.이런 기재의 앞부분으로 사용되는 산화알루미늄분말은 고상순도(강옥구조)를 갖고있어 편상립자형태를 갖고있다.혈소판의 지름은 보통 5μm에서 10μm, 두께는 2μm에서 3μm이다.원반의 압착 과정은 축 대칭 텍스쳐를 생성하며, 그 기면은 원반 표면과 평행하는 경향이 있다.텍스쳐의 이러한 축 대칭 특성을 사용하면 서피스 법선을 둘러싼 모든 방향에서 샘플을 설치할 수 있습니다.소량의 칼슘 장석 유리를 사용하여 상대적으로 덩어리를 눌러 액상 소결한다.결정 불순물이 검출되지 않았습니다.액상 소결에 관련된 유리상은 입자 간의 접촉을 효과적으로 방지하고 소결 온도에서 공작물을 냉각하는 과정에서 느슨해진다.이는 미응변과 그 관련 스펙트럼선이 넓어지는 최소 발전을 초래한다;tan × 의존성을 가진 고스 전폭과 같은 일부 미세 응변을 감지할 수 있습니다.SRM 1976c는 이러한 점을 고려하여 계측기 프로파일 함수 (IPF) 의 근사값을 얻기 위해 기본적으로 크리스털 크기 확장이 없습니다.그러나 정량 미시적 구조 분석을 위해 SRM 1976c를 사용하는 것은 권장되지 않습니다.이 SRM 원료를 구성하는 원반은 입도, 모양, 미세 응변 및 텍스처 측면에서 미시적 구조의 일관성을 보장하기 위해 전문적인 생산 운영 중에 제조되었습니다.

제품 용도:

이 표준 참조 물질 (SRM) 은 X선 분말 회절 장비의 선 위치와 강도를 2 × 각도의 함수로 조정하기 위해 소결 산화 알루미늄 디스크로 구성됩니다.고체 형태의 SRM은 샘플 로드 프로세스에 도입된 강도 측정의 변경 사항을 제거합니다.SRM 1976c의 한 유닛은 지름 약 25.6mm, 두께 약 2.2mm의 소결 산화 알루미늄 디스크로 구성되어 있습니다.

추가 정보SRM 1976c 산화알루미늄 X선 분말 연사 표준품 의 정보는 당사에 연락하여 얻을 수 있습니다. 당사가 제공한 미국 NIST 표준품은 모두 원래 공장에서 주문한 것입니다. 상품 기한이 짧고 품질 보증, 판매 후 *.

일부 표준 물질 목록은 다음과 같습니다.