palmoTDR/N 광대역 반사기

ShinewayTech의 palmoTDR/N 시리즈 손바닥형 광시역 반사기는 독창적인 광섬유 회선 장애물 찾기 분석 제품으로 광섬유 통신망 테스트에 새로운 응용 방식을 제공하였으며, 그 안정성과 놀라운 성비 비율은 전 세계에서 주목을 받고 있다.제품 모델: S20A/N, S20B/N, S20C/N, S20C/N+, M20A/N 등.

기능 특성:
기존 OTDR에 비해 크기가 작고 조작이 간결하며 독특한 핫키 기능으로 사건의 탐색과 분석을 더욱 빠르게 할 수 있습니다.단일 모드 (1310/1490/1550nm), 다중 모드 (850/1300nm) 및 PON 네트워크 (1625nm 필터 포함, 온라인 테스트) 파이버 테스트 응용 요구 사항을 완벽하게 충족하고 평균/실시간 이중 측정 모드를 지원합니다.그 다기능 배낭도 야외 작업과 실험실 테스트의 조작 특징을 충분히 고려하여 서로 다른 사용자와 각종 현장 테스트 수요를 충분히 만족시킬 수 있으며, 이를 현재 신속하게 발전하는 농화망, 도시망과 FTTx 광섬유 시공, 인증, 예검, 긴급수리, 유지보수의 가장 좋은 도구로 만들 수 있다.

기능 특징

• 이상적인 LAN/WAN/FTTx 인증 및 문제 해결 도구
• 광범위한 파이버 테스트 애플리케이션:
• 싱글 모드: 1310/1490/1550/1625nm(필터 포함), 최대 45dB
다중 모드: 850/1300nm, 18/22dB
• FTTx 온라인 테스트, 32번 이상 회로 분할기 테스트:
모델 S16C/N 및 S20C/X(1625nm 파장 대역 필터)
• 식별 회로 분배기 및 파이버 끝
• 고효율 휴먼 컴퓨터 인터페이스, 휴대용 경량화 디자인(1kg 미만)
• 650nm 가시 광원 구성
• 빠른 시작 <5초
• 고유한 바로 가기 키 설계: 키 조작을 위한 통합 바로 가기 키 기능, 빠른 위치 지정 및 이벤트 포인트 분석
• USB/RS232 데이터 인터페이스
• 1000개의 트랙 스토리지
• Bellcore 파일 형식(.sor)
• TraceManager 소프트웨어: 대량 편집, 인쇄 및 단일 페이지 다중 경로 인쇄 기능
• 최적화된 전력 설계: 내장형 NiMH 충전 배터리 1회 충전으로 8시간 측정 가능
• 방진, 방진 설계(2m 낙하 시험 통과)
• CE, FCC, FDA 인증

전원 켜기 시작 시간 5초 미만

palmoTDR/N 시리즈는 전원을 켜고 인터페이스에 들어가 테스트를 시작하기까지 5초 미만이며 사용자는 기다릴 필요가 없습니다.

온라인 (패스스루 분배기) 테스트

1625nm 파장대 고성능 필터 온라인 테스트 가능

32번 이상 회로 분배기 테스트 및 광섬유 끝 인식 가능

온라인 광 신호 검사 기능
(1310, 1490 또는 1550nm 파장 테스트를 사용하는 경우) 측정된 광섬유에 통신 광신호가 있는 경우 OTDR은 테스트 결과를 얻을 수 없으며 OTDR에서 보내는 고출력 펄스 광신호는 측정된 광섬유에 연결된 네트워크 장치(예: SDH/WDM/PON)에서 작동하는 수신기나 다른 장치를 손상시킬 수 있으며 자체 부품의 손상을 초래할 수 있습니다.palmoTDR/N 시리즈는 온라인 통신 광신호에 대한 검측 기능을 갖추고 있다: 테스트 펄스를 보내기 전에 먼저 테스트한 광섬유에 온라인 통신 광신호가 있는지 검사하고 검사 결과를 표시한다;온라인 통신 광신호가 있는 경우 프롬프트가 표시되고 테스트가 중지됩니다.이 기능은 테스트 계기와 통신 설비를 효과적으로 보호할 수 있다.

OTDR TraceManager 에뮬레이션 소프트웨어

Windows 시스템 기반 소프트웨어는 PC에서 테스트 경로를 분석/편집하거나 사용자 요구에 따라 다양한 형태의 테스트 보고서를 생성할 수 있습니다.
• 테스트된 이력 파일 탐색 및 분석 가능
• Bellcore 파일 저장소 형식
• 표시줄, 광섬유 이벤트, 분석 정보, 테스트 파라미터 등의 데이터
• 단일 페이지 단일 또는 단일 페이지 다중 경로 옵션 인쇄 모드
• 대량 수정 및 대량 인쇄 기능
• 파형 차이 대비 기능:
에뮬레이션 모드에서는 동일한 창에서 여러 개의 파형을 동시에 열 수 있으며, 파형 간의 차이가 동일한 창에 표시되어 광섬유 노후화와 같은 이유로 인한 매개변수 변화를 쉽게 비교할 수 있습니다.
• 상호 분석 테스트 기능

성능 매개 변수