오실로스코프 ZLG

512Mpts 스토리지 깊이, 왜곡 없는 장시간 파형 캡처

저장 깊이 = 샘플링 속도 × 샘플링 시간

저장 깊이가 부족하면 높은 샘플링 속도의 경우 1소단의 파형만 캡처할 수 있으며, ZDS5054D는 512Mpts 초대형 저장 깊이를 기본으로 장착하고 1024ms 파형을 캡처할 경우 100MSa/s 샘플링 속도를 유지할 수 있다.

풍부한 트리거 방식, 유연한 신호 캡처

13가지 기본 트리거, 33가지 프로토콜 트리거, 혁신적인 템플릿 트리거가 기본으로 제공되어 엔지니어가 필요한 신호를 유연하게 캡처할 수 있습니다.

파형 검색, 빠른 위치 이상

가장자리, 맥폭, 저폭, 출시/하강 시간, 주기/주파수 등 다양한 검색 조건을 지원하며, 전체 하드웨어 가속 검색 알고리즘을 기반으로 1초 만에 대량의 파형에서 검색 조건에 부합하는 파형을 빠르게 위치시킬 수 있으며, 자동 표시로 이상 신호를 한눈에 볼 수 있다.

시차 분석: 1초 동안 통신 시차 정합성 테스트 완료

휴대폰, 스마트 웨어러블, 가전, 스마트 스크린, 멀티미디어 영상음향 등 임베디드 스마트 기기는 내부 버스 통신 시퀀스 일치성에 대해 엄격한 요구가 있다.ZDS5054D의 혁신적인 시계열 분석 기능은 IIC, IIS, SPI, MIPI-RFFE 등 신호의 맥폭, 폭, 가장자리, 구축 시간, 유지 시간 등 다양한 조합 매개변수를 분석할 수 있다. 원래 수동 테스트는 수십 분이 걸렸지만 시계열 분석 기능을 사용하여 자동 테스트는 1초 만에 완료되고 테스트 보고서를 내보낼 수 있다.

FIR 하드웨어 실시간 필터

ZDS5000 오실로스코프에는 FIR 하드웨어 실시간 필터가 내장되어 있어 10Hz-200MHz 범위 내에서 임의로 오실로스코프 대역폭을 조절할 수 있으며 특정 주파수점의 소음과 간섭 신호를 정확하게 필터링하여 유효 신호만 나타낼 수 있다.

MOSFET 스위치 손실 정밀 계량화

전력 MOSFET 스위치 손실 테스트는 PFC 전원 디버깅에서 어려운 점입니다. SPWM은 주기마다 스위치 손실이 다르기 때문에 손 커서와 수학 연산을 통해 수동으로 테스트하는 전통적인 방식은 더 이상 적용되지 않습니다.ZDS5054A 오실로스코프는 250Mpts 저장 깊이를 표준으로 장착하여 여러 개의 완전한 변조 주기 SPWM 파형을 포획할 수 있으며, 각 스위치 주기의 개통/꺼짐/도통 손실을 자동으로 집계하고, 최대치, 최소치, 평균치를 계산하며, 스위치 부품의 전력 손실을 정확하게 계량화할 수 있다.

루프 분석: 전원 루프의 안정성을 신속하게 판단

안정적인 피드백 루프는 전원을 켜는 데 매우 중요합니다. 충분한 위상 여유와 폭 여유가 없으면 전원의 동적 성능이 떨어지거나 출력 진동이 발생합니다.버드투는 마이너스 피드백 시스템의 이득, 위상의 주파수 응답 곡선을 직관적으로 나타낼 수 있으며, 시스템의 이득 여분과 위상 여분을 분석함으로써 제어 시스템의 안정 여부를 판단할 수 있다.