OSI 왕자 계측 위상차 측정 시스템 샘플 공급

Oji Keisoku (왕자 계측,OSI) KOBRA-WFD0전용 제품입니다.긴 막대형 광학 박막연구 개발의고정밀, 자동 진입 스타일 광학 비트 차이 측정 시스템, 핵심은 박막에 사용되는위상차, 취향각, 파장색산 및 입사각 의존성분석은 광학막 연구개발과 품질검사의 설비이다.

1. 핵심기술원리

• 측정 방법：평행 니콜 회전법(Parallel Nicol Rotation Method)

• 기존 회전 편향 탐지기 방법에 비해초저위상차OLED 원형 편광 필름 베이스와 같은 샘플의 감도가 높습니다.

• 광로 안정성 및 구현 가능초폭 측정 거리한 번에 측정하여 기어를 전환할 필요가 없습니다.

• 광원 시스템：6밴드 솔리드 스테이트 LED 광원

• 파장:450 / 500 / 550 / 590 / 630 / 750 nm(±2 nm)

• 수명:> 20000시간, 유지 보수 없음, 수은 램프 / 할로겐 램프 교체 불필요.

2. 핵심 기술 매개변수

• 측정 범위

• 위상 차이(Retardation)：0 ~ 20,000 nm(초박막에서 두께 보상막까지 전체 범위)

• 취향각(Optic Axis)：0 ~ 90°

• 정밀도 지표

• 위상차 해상도:0.001 nm

• 위상차 반복성:≤ 0.03 nm(150nm 표본, 590nm, 3σ)

• 각도 해상도:0.001°

• 샘플 사양

• 프로파일 측정(Profile): 너비50 mm× 길이임의(연속 자동 공급 지원)

• 입사각 의존 측정：30 mm ~ 40 × 50 mm, 두께t ≤ 3 mm

• 반점 측정:33mm²(5.8mm 사각형)

• 제어 시스템

• 전용 소프트웨어:코브라-DSP/FD, 코브라-RE0

• 데이터 시각화, 보고서 내보내기, 다중 분포 분석 지원

3. 제품의 핵심 우세

1. 광폭 자동 샘플링

• 특별히볼륨 대 볼륨(Roll-to-Roll)공예의긴 막대 박막연속적이고 자동화된 길이 방향 위상 차 분포(Profile) 측정을 지원하도록 설계되었습니다.

• 검측 효율을 대폭 향상시켜 생산 라인 표본 검사와 연구 개발 대량 테스트에 적합하다.

2. 초폭 및 초고정밀도

• 단일 측정 범위: 0~20000nm감지기를 교체하거나 이득을 조정할 필요가 없습니다.

• 대nm 레벨OLED용 COP 필름과 같은 슬림형 필름과μm급대형 LCD 보정 필름과 같은 두꺼운 필름나노급정밀도를 측정하다.

3. 다기능 분석 기능

• 위상차 분포(Profile): 박막 너비 / 길이 방향을 따른 균일성 분석.

• 입사각 의존성(Angle Dependence): 다양한 시각에서 광학적 표현을 시뮬레이션합니다.

• 파장 분산(Wavelength Dispersion): 다파장하의 위상차 변화 추세.

4. 전형적인 응용분야

• 디스플레이 광학 재료: 위상차막, 편광판, OLED/LED용 원형 편광판, 액정 보상막

• 고분자 재료: 스트레치 필름, 폴리이미드(PI) 필름, COP/Cyclic Olefin Polymer 필름

• 연구 개발 및 품질 검사: 광학막 재료 개발, 공정 안정성 모니터링, 원료 품질 검사, 실효 분석

5. 총화