OSI 왕자 계측 길이 샘플 위상 비교 측정 시스템

OSI 왕자 계측 길이 샘플 위상 비교 측정 시스템

OSI 왕자 계측 길이 샘플 위상 비교 측정 시스템

KOBRA-WX*** 시리즈 긴 샘플 위상 비교 측정 시스템

• 모델 구분(WX***):폭표준 모델 구분:WX50(50mm 폭), WX100(100mm 폭), WX150(150mm 폭)따로 있다WX-IR 적외선(850∼1100nm 적외선 광학막 적합)

■ 특징
측정 방법:
평행 니콜 회전법

측정 파장:
450、550、590、650nm

샘플 단계별의 샘플 크기

측정 영역
33mm²(5.8mm 정사각형: 감광세포 영역)

소프트웨어 이름:
코브라-DSP/X

측정 항목:
위상 차 및 취향 각도 프로파일

Oji Keisoku (OSI 프린스 측정) KOBRA-WX*** 긴 샘플 위상차 측정 시스템 제품 소개

1. 핵심 포지셔닝과 측정 원리

1. 제품 포지셔닝

• 핵심 용도:긴 자/큰 크기의 광학 필름(폭 50/100/150mm, 길이 ≤1000mm)의위상차(Retardation), 취향각(Optic Axis), 폭폭 방향 균일성(Profile), 파장 분산비접촉, 전자동 측정

• 대상 장면: 광학 필름 개발, 공정 균일성 모니터링, 공급/출하 전 사이즈 품질 검사, 편광판/보상막/COP/PI 필름 길이 샘플 평가

• 모델 구분(WX***):폭표준 모델 구분:WX50(50mm 폭), WX100(100mm 폭), WX150(150mm 폭)따로 있다WX-IR 적외선(850∼1100nm 적외선 광학막 적합)

2. 핵심 측정 원리

• 평행 니콜 회전법(Parallel Nicol Rotation Method): 왕자계측기술, 전통적인 회전편향검사기법에 비해초저위상차 감도가 높고 광로 안정성이 강하며 광량정은 기어를 바꿀 필요가 없고 중복성이 더 좋다nm급 초박막에서 μm급 두께 보상막까지 적합

• 광원:다중 파장 솔리드 스테이트 LED(표준 450/550/590/650nm, 6밴드까지 확장 옵션), 유지 보수 없음, 예열 없음, 안정적인 파장 > 20000시간

2. 핵심 기술 매개변수 (WX100 기준, 동일 시리즈 공통)

1. 측정 범위와 정밀도

• 위상 차이(Retardation):0 ~ 20,000 nm(전체 스레드 단일 측정, 기어 전환 없음)

• 취향각(Optic Axis):0 ~ 90°

• 위상차 해상도:0.001 nm; 반복성:≤0.03 nm (150nm 标样，590nm, 3σ)

• 각도 해상도:0.001°; 반복성:≤0.05°

• 반점 측정:33mm²(5.8mm 사각형), 큰 지역의 평균 측정을 보장하고 국부적인 결함의 간섭을 피한다

2. 샘플 사양(핵심 긴 샘플 적합)

• 표준 폭:WX50 (50mm), WX100 (100mm), WX150 (150mm)

• 샘플 길이:≤1000 mm(전체 연속 스캔 지원)

• 샘플 두께:≤3 mm

• 샘플 형태:긴 막대 박막, 편광판, 절단 장편, 권재 절단 견본, 자동 샘플링 / 수동 위치 지정, 폭 폭 방향 다중 점 / 전체 폭 스캔 지원

3. 시스템 및 소프트웨어

• 전용 제어 소프트웨어:코브라-DSP/X

• 측정 항목: 위상 차이, 취향 각도, 폭 방향 Profile, 길이 방향 분포, 파장 분산, 균일성 통계(Cpk, 표준 차이)

• 데이터 출력: 2D/3D 분포 시각화, 추세 분석을 지원하는 CSV, Excel, PDF 보고서

• 본체 크기(W×D×H):1550 × 800 × 600 mm; 무게: 약 150kg; 설치 공간: W2500×D900mm

3. 핵심 제품의 장점

1. 긴 샘플 전용 자동 샘플링, 전체 폭 연속 측정

• 특별히폭 50~150mm, 길이 1m의 긴 막대 샘플 설계, 길이/너비 방향으로 자동 스캔, 한 번에 전체 프로파일 완성, 반복적인 절단, 수동 대위 필요 없음,긴 샘플 검사 효율 대폭 향상 (단일 샘플 ≤ 1min)

• 폭 폭 방향 다중 점 / 전체 폭 스캔, 정확한 평가가로 균일성(제조 스트레치 / 도장 결함 핵심 지표)

2. 광대역 + 나노미터급 정밀도, 전 품목 호환

• 0~20000nm 초폭 위상차 무시:OLED 슬림 COP 필름(몇 nm)에LCD 대형 보정 필름 (몇 μm)모듈을 바꿀 필요 없이 한 번에 측정 가능

• 평행 니콜파 보증초저위상차 고감도, 전통 설비의 초박막 측정이 정확하지 않고 중복성이 떨어지는 문제점을 해결한다

3. 안정적이고 신뢰할 수 있는 라인급 내구성

• LED 솔리드 스테이트 광원, 소모품 없음, 유지 보수 면제, 장기 파장 드리프트 최소

• 기계구조의 강성이 강하여 실험실 + 생산라인 표본검사 이중장면에 적합하고 장기운행안정성이 우수하다

• 소프트웨어 인터페이스가 간결하고 클릭 한 번으로 측정하며 품질 검사 보고서를 자동으로 생성하여 작업자의 문턱을 낮춘다

4. 확장 기능

• 선택적입사각 의존 측정 모듈(다양한 시각의 광학적 표현 시뮬레이션)

• 선택적적외선(WX-IR): 850~1100nm 적외선 광학 필름, 터치/디스플레이 적외선 필름 측정에 적합

• 더 긴 샘플, 더 넓은 폭, 다중 파장 확장을 위한 맞춤형 구성 지원

4. 전형적인 응용분야

• 광학 재료 표시:편광판, 위상차막, OLED 원편광판, LCD보상막, COP/PI 스트레치막

• 고분자 재료: 장폭 광학 필름, 열 수축 필름, 취향 고분자 판재

• 연구개발/품질검사: 긴 샘플 균일성 평가, 제조 공정 안정성 모니터링, 원료 전 사이즈 검사, 출하 품질 관리 통제, 실효 분석

5. 동일 시리즈 모델 개요

6. KOBRA-WFD0과의 핵심 차이점

• WX는*：고정 길이 샘플(≤ 1m), 폭 50~150mm, 오프라인 자동 샘플링, 전체 길이 슬라이스 프로파일 중심, 전체 크기 측정을 위한 트림된 긴 샘플, 편광판

• WFD0은：권대권 연속 공급, 길이 무한, 폭 50mm, 측중 권재 연속 양산 검측

7. 구매경로

많은 업계 고객, 파트너의 문의와 협력을 환영합니다.

옥사키과학기기(심천)유한공사

특별 책임자: ¹ ⁸¹ ⁰⁹⁸ (숲)

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