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새머페이 Nexsa & trade;엑스선 광전자 분광기

협상 가능업데이트01/09
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin
개요
Thermo Scientific NexsaX선 광전자 분광기(XPS) 시스템은 전자동·고통량의 다기술 분석과 함께 연구 수준의 고품질 분석 검사 결과를 유지한다.ISS, UPS, REELS, 라만 등 다양한 분석 기술을 하나로 통합하여 사용자는 진정한 의미의 공동 다중 기술 분석을 진행할 수 있으며, 따라서 마이크로 전자, 초박막 필름, 나노 기술 개발 및 많은 다른 응용이 진일보한 진전을 이룰 수 있도록 잠재력을 방출할 수 있다.
제품 정보

새머페이 Nexsa™ 엑스선 광전자 분광기재료 분석 및 개발

Nexsa 스펙트럼은 재료의 잠재력을 극대화하는 분석 유연성을 제공합니다.결과를 연구 수준의 품질 수준으로 유지하는 동시에 선택 가능한 다중 기술 연합의 형식으로 유연성을 제공하여 진정한 의미에서 다중 기술 연합의 분석 검측과 높은 통량을 실현한다.


새머페이 Nexsa™ 엑스선 광전자 분광기표준화된 기능으로 강력한 성능:

· 절연체 분석

· 고성능 XPS 성능

· 심층 분석

· 다중 기술 통합

· 심층 분석 기능을 확장하는 듀얼 모드 이온 소스

· ARXPS 측정을 위한 기울기 모듈

· 기기 제어, 데이터 처리 및 보고 생산을 위한 Avantage 소프트웨어

· 작은 빔 반점 분석

옵션 업그레이드: 다양한 분석 기술을 테스트 분석에 통합할 수 있습니다.자동 실행

· ISS: 이온 산란 스펙트럼, 재료 최표면 1-2 원자층 원소 정보 분석, 질량 분별을 통해 일부 동위원소 풍도 정보를 분석 할 수 있습니다.

· UPS: 자외선 전자 스펙트럼은 금속/반도체 재료의 가격대 에너지 수준 구조 정보 및 재료 표면 기능 함수 정보를 분석하는 데 사용됩니다.

· 라만: 라만 스펙트럼 기술은 분자 구조 차원의 지문 정보를 제공하는 데 사용된다

· REELS: 반사 전자 에너지 손실 스펙트럼은 H 원소 함량의 측정 및 재료 에너지 수준 구조 및 대역 갭 정보에 사용할 수 있습니다.

SnapMap의 광학 뷰를 사용하여 샘플 특성에 초점을 맞춥니다.옵티컬 뷰를 사용하면 관심 영역을 빠르게 찾을 수 있으며 초점을 맞춘 XPS 이미지를 생성하여 실험을 더욱 설정할 수 있습니다.

1. X선은 샘플의 작은 영역을 비춘다.

2. 이 작은 영역에서 광전자를 수집하여 분석기에 수집

3. 견본대의 이동에 따라 원소 도감을 끊임없이 수집한다

4. 전체 데이터 수집 과정에서 SnapMap을 생성하는 데 사용되는 샘플대 위치를 모니터링합니다.

새머페이 Nexsa™ 엑스선 광전자 분광기응용 분야

· 배터리

· 생물 의약

· 촉매

· 도자기

· 유리 코팅

· 그래핀

· 금속과 산화물

· 나노 재료

· OLED는

· 중합체

· 반도체

· 태양전지

· 박막