NIST SRM640g 실리콘

주요 용도:NIST SRM640g 실리콘 연사선의 위치와 선형을 교정하는 기준으로 사용하기 위한 것으로, 분말연사법을 통해 확정된다.

포장 사양:NIST SRM640g 실리콘 한 병약 7.5그램의 아르곤 가스에 담긴 실리콘 가루로 구성되어 있다.

재료:초고순도의 본징규소정괴로 제조되였는데 이런 정괴는 분쇄와 분사연마를 거쳐 중치립경이 4.1μm이다.그런 다음 얻은 가루를 1000 ° C의 흡기 아르곤에서 2 시간 동안 퇴화시키고 아르곤에서 병에 담습니다.X선 분말 회절 데이터의 분석은 SRM 재료가 회절 특성 면에서 균일하다는 것을 보여줍니다.

인증 값:22.5°C 온도에서 0.543 114 4nm ± 0.000 008nm의 인증 웨이퍼 매개변수

이 값과 확장 불확정도 (k = 2) 로 정의된 구간은 주로 측정 데이터와 그 분포에 대한 기술적 이해에서 추정된 B클래스 불확정도에 의해 결정됩니다.NIST 인증 값은 알려진 모든 또는 의심스러운 편차 소스가 조사 또는 고려되었기 때문에 NIST가 정확성에 대해 가장 높은 자신감을 가진 값입니다.인증 값과 불확정도는 ISO/JCGM 지침[2]에 설명된 방법론에 따라 계산됩니다.측정된 것은 격자 매개변수입니다.계량 근원성은 길이의 SI 단위이며 나노미터로 표시됩니다.

정보 값:인증 데이터의 분석에는 샘플에 의한 확장을 설명하기 위해 로렌즈 분포의 전체 폭 반 최대값 (FWHM) 을 세분화하는 것이 포함된다.FWHM 항목의 1/cos 변화에 따른 각도 의존성은 크기로 인한 확장으로 해석됩니다.얻은 값은 평균 볼륨 가중 도메인 크기인 약 0.4µm와 일치합니다.용어는 tan×의 변화에 따라 미응변으로 해석되고 0으로 세분화된다.피크 위치를 계산하는 정보 값은 표 1에 나와 있습니다.레이저 산란을 통해 확정된 전형적인 입도 분포는 그림 1에 나와 있다.정보 값은 SRM 사용자가 관심을 갖는 값으로 간주되지만 해당 값과 관련된 불확실성을 평가할 수 있는 정보가 충분하지 않습니다.정보 값은 계량 추적 기능을 설정하는 데 사용할 수 없습니다.

인증 만료:NIST SRM 640f - 실리콘 파우더 표준품의 인증은 본 인증서의 지침에 따라 SRM을 처리하고 저장하는 것을 전제로 규정된 불확실성 범위 내에서 무기한 유효하다("저장 지침"참조).SRM에 대한 정기적인 재인증은 필요하지 않습니다.SRM이 손상되거나 오염되거나 다른 방식으로 수정된 경우 인증은 유효하지 않습니다.

저장 지침:주변 온도

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