다기능 엑스선 흡수 스펙트럼

국창과 의다기능 엑스선 흡수 스펙트럼SuperXAFS M9000은

핵심 매개변수

1. 에너지 범위: 4.5-20keV, 25kev로 승급 가능

2.샘플 부위 광선통량:≥4×10⁶광자/초 @7-9 keV

3. 에너지 해상도: 0.5-1.5eV@7-9 keV

4.에너지 중복성:≤30meV@24h

5. 메커니즘 정밀도 조절: 에너지 스캔 최소 단계 0.1eV

작업 모드

1.근접 스냅샷 기능 지원.

2.투과/형광 모드 흡수 스펙트럼, 발사 스펙트럼을 지원합니다.

주요 특징

1.맞춤형 다중 샘플 자동 채집, 샘플링 횟수 감소.

2. 샘플링 데이터베이스를 제공하여 사용자 분석을 간소화한다.

3.제자리 장면 맞춤 제작을 지원하고 흡수 스펙트럼 전문 데이터 해석 지도를 제공합니다.

국창과 의다기능 엑스선 흡수 스펙트럼SuperXAFS M9000은

X선 흡수 정밀 구조 분광기(XAFS/XES)는 재료의 국부 구조와 전자 상태를 연구하는 데 사용되는 비파괴 기술이다.이 기술은 X선과 물질의 상호작용을 이용하여 지정된 원소의 근접 흡수 스펙트럼(XANES), 확장 원변 흡수 스펙트럼(EXAFS) 및 특정 에너지 대역 발사 스펙트럼을 획득하여 각각 원소의 화학 상태와 가격, 원자 주변 국부 환경의 배위 구조를 분석하고 측정 원소의 배위 원자 카테고리를 선별하는 데 사용되며, 결정 상태와 비결정 재료의 미시적 배위 구조를 나타내는 중요한 수단이다.XAFS/XES는 주로 촉매, 합금, 세라믹, 환경 오염 물질, 각종 결정 및 비결정 재료 및 생물 샘플 내 금속 이온의 가격 상태, 배위 구조 및 전자 상태 분석 및 재료 국부 구조가 열장, 광장, 전장과 자기장 변화에 따른 국부 구조의 동적 진화 과정 연구 등에 응용된다.