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마이크로컴퓨터 제어 전자동 저온 충격 시험기

협상 가능업데이트05/22
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개요

마이크로컴퓨터 제어 전자동 저온 충격 시험기 제품 소개 JBDW-Y 시리즈 저온 충격 시험기는 금속 재료가 동력 부하에서 충격에 저항하는 성능을 검사하는 데 사용되며, 야금 기계 제조 등 단위에 필수적인 검측 기기이며, 과학 연구 단위가 신소재 연구를 진행하는 데 없어서는 안 될 시험 기기이다.JBDW-Y 시리즈는 마이크로컴퓨터 제어 전자동 충격 시험기로서 PC 마이크로컴퓨터 제어, 전동 양진, 충격, 마이크로컴퓨터 측정, 연산, 화면 표시 결과 및 인쇄 가능 등을 채용하여 작업 효율이 높고 테스트 정밀도가 높다.시료를 충격한 후 남은 에너지를 이용하여 자동으로 플랭크하여 다음 시험 준비를 할 수 있습니다.

제품 정보

마이크로컴퓨터 제어 전자동 저온 충격 시험기

제품 소개

JBDW-Y 시리즈저온충격시험기는 금속재료가 동부하에서 충격에 저항하는 성능을 검사하는데 사용되며 야금기계제조 등 단위에서 반드시 갖추어야 할 검측기기이며 과학연구단위에서 신소재연구를 진행하는데 없어서는 안될 시험기기이기도 하다.
JBDW-Y 시리즈는 마이크로컴퓨터 제어 전자동 충격 시험기로서 PC 마이크로컴퓨터 제어, 전동 양진, 충격, 마이크로컴퓨터 측정, 연산, 화면 표시 결과 및 인쇄 가능 등을 채용하여 작업 효율이 높고 테스트 정밀도가 높다.시료를 충격한후 남은 에네르기를 리용하여 자동적으로 양진하여 다음번 시험준비를 잘할수 있으며 조작이 간편하고 작업효률이 높다.연속적으로 충격시험을 하는 시험실과 대량으로 충격시험을 하는 야금, 기계제조 등 업종에서 그 우월성을 더욱 잘 나타낼 수 있다.PC기는 재료의 충격흡수공, 충격인성, 진동망치양각 및 시험평균치를 표시할수 있으며 당번 시험데이터 및 시험평균치를 인쇄할수 있다.JBDW-Y형 저온 충격 시험기는 압축기 냉각 기술을 사용하여 열 균형 원리와 순환 교반 방식을 이용하여 시료에 대한 자동 균일 냉각, 항온, 온도 조절은 모두 전기 자동 제어, 전용 샘플링 장치 자동 공급 장치, 시료 자동 단면 위치, 시료 자동 단면 위치를 확보하여 시료가 난로에서 충격 시간이 2초보다 크지 않고 금속 저온 하비 충격 시험 방법의 요구를 만족시킨다.본 시험기는 국표 GB/T3808-2002"진추식 충격시험기의 검사"에 부합하고, 국표 GB/T229-2007"금속 하비부족 충격시험방법"에 따라 금속재료에 대한 충격시험을 진행하며, JJG145-82"진추식 충격시험기 검정규정"에 부합한다.
본 설비는 조작이 간단하고 편리하며 작업 효율이 높아 금속 저온 충격 시험에서 이상적인 시료 냉각, 보온 설비이다.다른 저온 측정 및 시험 작업에도 사용할 수 있습니다.
, 주요 기술 지표 및 가격:

사양 모델 JBDW-300Y JBDW-500Y
충격 에너지 150J、300J 250J、300J
충격 칼날 협각 30°
플랭크 해머 선양각 150°
스핀들 중심에서 충격점 거리 750mm 800mm
충격 속도 5.2m/s 5.4m/s
시료 받침대 간격 40mm
펜치 필렛 R1-1.5mm
충격 칼날 필렛 R2mm,R8mm
샘플 사양 10mm×10mm×55mm
샘플박스 용량 10개
폼 팩터 크기 2200mm×1850mm×1540mm 2550mm×1950mm×1750mm
시험기 순중량 850Kg 960Kg
전원 공급 장치: AC 3상 380V ±10% 50HZ 5A
환경 조건 주변 부식 매체, 진동, 강한 전자기 없음
냉각 방식 압축기 재첩식 냉각
저온 범위 0~-80℃
온도 조절 정밀도 변동 ± 0.5 ℃ 경도: 1 ℃