금상현미경 SC-50M

금상현미경 SC-50M

과학연구급 미분간섭 DIC 금상현미경, 2K 스크린 전도성 입자 압흔 검측 금상현미경

새로운 SC-50M 연구급 금상현미경은 외관부터 성능까지 모두 국제설계의 풍향을 뒤따르며 공업령역의 새로운 구도를 확대하는데 진력하고있다.SC-50M은 끊임없이 탐구하고 끊임없이 초월하는 브랜드 디자인 이념을 계승하여 고객에게 완벽한 산업 검사 솔루션을 제공한다

다단 분광비 관찰 헤드 설계

넓은 빔 이미징 시스템으로 설계된 새로운 SC-50M 시리즈 관찰통은 26.5mm의 앞선 초광시야 관찰을 지원하여 새로운 큰 시야 경험을 선사합니다.2단식은 경첩 3안 관찰통과 흡사하여 견본의 이동방향이 당신이 고글을 통해 관찰한 방향과 일치하도록 보장하여 조작이 더욱 뜻대로 되도록 한다.

3단식 경첩 3안 관찰통은 영상 광선이 2안 관찰 또는 3안 촬영에 사용되는 기초에서 1단 20% 를 추가하여 2안 관찰에 사용하고 80% 를 현미경 촬영에 사용하여 사용자가 동시에 거울 아래 이미지와 영상 이미지를 비교 관찰할 수 있도록 한다;

편광 시스템

편광 시스템은 편광기와 편광 검사기를 포함하며, 편광 검사를 할 수 있으며, 반도체와 PCB 검사에서 잡광을 제거하고 세부 사항을 더 잘 알 수 있다.편향 탐지기는 고정식 편향 탐지기와 360도 회전식 편향 탐지기로 나뉜다.360 ° 회전식 편향검사기는 표본을 이동하지 않고 표본이 부동한 편광각도의 광선에서 나타난 상태를 편리하게 관찰할수 있다.편광 시스템의 기초 위에 순우의 새로운 연구 개발 미분 간섭기를 탑재하여 노르망스키 미분 간섭 라이닝 시스템을 구축할 수 있다.

노먼스키 미분 간섭 라이닝 시스템

새로 개발한 U-DICR 미분간섭부품은 명장관찰하에서 검사할수 없는 미세한 고저차를 높은 대비도의 명암차로 전환시켜 립체부조형식으로 표현할수 있다. 례를 들면 LCD전도립자, 정밀디스크표면의 스크래치 등이다.