금속화막 콘덴서 성분 분석기 천서 기기

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개요

X선 형광 분광기(XRF)를 사용하여 금속화막 콘덴서 도금층의 알루미늄(Al)과 아연(Zn) 함량을 측정하는 것은 빠르고 손상되지 않으며 효율적이며 널리 사용되는 기술이다.금속화막 콘덴서 성분 분석기 천서 기기

제품 정보

사용X방사선 형광 분광기 (XRF는) 금속화막 콘덴서 도금층의 알루미늄 측정(알은) 및 아연(Zn은) 함량은 일종의빠르고 손상되지 않으며 효율적이며 널리 사용되는 기술. 다음은 애플리케이션, 원리, 이점 및 고려 사항에 대한 자세한 설명입니다.

X방사선 형광 분광기 (XRF는）⭐핵심 원리

1. 발생:XRF는의고에너지 초급 방출X샘플 (콘덴서의 금속화막) 표면을 비추는 방사선 빔.

2. 이온화:초급X방사선은 샘플 표층 (일반적으로 몇 마이크로미터 깊이) 원소의 내층 전자 (예:K레이어 또는L레이어) 가 자극을 받아 튀어나와 빈 구멍을 형성합니다.

3. 치예 발사:불안정한 상태의 원자 외 궤도 전자가 안으로 약진하여 빈 구멍을 채울 때, 특정 에너지의 2차 방출X방사선(특징X방사선 형광).

4. 분석 테스트:탐지기는 이런 특징 형광을 수신한다X방사선.다른 요소에는특정 피쳐X방사선 에너지 (또는 파장)：

o알루미늄:Kα선은 대략1.486 케브(또는Lα선약1.487 케브）。

o아연:Kα선은 대략8.638 케보트。

5. 정량:측정을 통해알은와Zn은특징 봉선의 강도 (스펙트럼에서 봉의 면적 또는 높이), 교정 곡선 (이미 알려진 함량의 표준 샘플을 사용하여 구축) 을 결합하면 도금층의 알루미늄과 아연의품질 비율 (중량%）또는 깊이 분석 모드를 통해 도금 두께 방향의 함량 분포입니다.

금속화막 콘덴서 성분 분석기 천서 기기 제품 설명, 기술 매개 변수 및 구성

EDX 4500H X 형광 분광기는 XRF 검출 원리를 이용하여 각종 원소 성분에 대한 신속하고 정확하며 손상 없는 분석을 실현한다.
이 기기의 주요 특징은 스마트 진공시스템을 이용하여 Si, P, S, Al, Mg 등 경원소에 대한 좋은 자극 효과를 가질 수 있고, XRF 기술을 이용하여 고함량의 Cr, Ni, Mo 등 주목하는 원소를 정확하게 분석할 수 있으며, 제련 과정 통제에서 테스트 시간이 짧아 검측 효율과 작업 효율을 크게 향상시키는 역할을 한다.
또한 합금 분석, 전체 원소 분석, 유해 원소 검출 응용에도 광범위하다.

금속화막 콘덴서 성분 분석기 천서 기기 성능 특징

슬림형 윈도우 엑스레이 튜브
디지털 멀티트랙 기술로 테스트를 더욱 빠르게 하고 계수율이 100000CPS에 달하며 정확도가 더욱 높아 합금 검사에서 효과가 더욱 좋다
FAST-SDD 탐지기, 좋은 에너지 선형, 에너지 해상도 및 에너지 스펙트럼 특성, 높은 피크 백비
저에너지 X선은 측정 대기 원소를 자극하여 Si, P 등 가벼운 원소에 대한 자극 효과가 좋다
지능형 진공 흡입 시스템, 공기의 영향 차단, 테스트 범위 대폭 확장
자동 스펙트럼 안정 장치는 계기 작업의 일치성을 보장하였다.
높은 신호 잡음비의 전자 회로 단위
수동 작업으로 인한 번거로움으로부터 다양한 샘플에 대해 정직기와 필터를 자동으로 전환
스펙트럼 해제 기술은 스펙트럼 피크를 분해하여 측정된 원소의 테스트 결과가 같은 분석도를 가지도록 한다
다중 파라미터 선형 회귀 방법은 원소 간의 흡수, 증대 효과를 뚜렷하게 억제한다
내장형 HD 카메라
LCD 디스플레이는 기기의 중요한 매개변수 (관압, 관류, 진공도) 를 한눈에 볼 수 있도록 한다

석탄재 성분 원소 신속 분석기 천서 기기표준 구성

슬림형 윈도우 엑스레이 튜브
FAST-SDD 탐지기
디지털 다중 채널 기술
광 회로 향상 시스템
높은 신호 소음비 전자 회로 단위
내장형 HD 카메라
자동 전환 정직기 및 필터
자동 스펙트럼 안정 장치
삼중 보안 모드
신뢰할 수 있는 전체 철골 구조
90mm × 70mm의 상태 디스플레이 LCD
진공 펌프

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