Leica EM RES102 다기능 이온 감소기

협상 가능업데이트01/12

모델

제조업체의 성격: 생산자

제품 카테고리

원산지 Place of Origin

온라인 상담

개요

Leica EM RES102 다기능 이온 감소기

제품 정보

TEM, SEM 및 LM용 샘플 제조

고유한 솔루션

Leica EM RES102는 최적의 이온 연마 결과를 얻기 위해 두 개의 안장 이온 소스를 갖춘 독특한 이온 빔 연마 장비입니다.

이 독립형 데스크탑 장치는 TEM, SEM 및 LM 샘플 제조 기능을 하나로 통합하여 시중에 나와 있는 다른 장치와는 확연히 다릅니다.고에너지 이온 연마를 제외하고는

기능 외에도 라이카 EM RES102는 저에너지 극온화의 이온 빔 연마 과정에도 사용할 수 있다.

TEM 샘플

› 단면 또는 양면 이온 빔 연마 재료에 적합한 이온 빔 감소 과정.안장 이온원은 매우 큰 전자빔 투명 박구를 얻을 수 있다.

› 프로그램화 제어의 이온 입사 각도 변화는 무정형 비결정층을 줄이기 위해 FIB 샘플 청소와 같은 특수한 샘플 제조 목적을 달성하는 데 적용됩니다.

SEM 또는 LM 샘플

› 이온 빔 광택의 최대 광택 영역은 25mm에 달한다.

› 이온 빔 청소는 시료 표면의 오염층이나 기계적으로 광택을 낸 후 표면에서 발생하는 도포층을 청소하는 데 적용된다.

› 샘플 표면의 라이닝 강화 작용, 화학 부식 작용을 대체 할 수 있습니다.

› 다중 레벨 샘플을 만드는 데 사용되는 단면을 35° 경사로 가공합니다.

› 90 ° 경사면 절단은 복합 구조의 반도체 샘플이나 조립 부품을 제조하는 데 사용되며, 이 방식에 필요한 기계 사전 가공 작업이 가장 적다.

TEM, SEM 또는 LM 샘플 제조

- 선택 사항에 따라 다름

다양한 어플리케이션 요구를 지원하기 위해 Leica EM RES102는 TEM, SEM 및 LM 샘플 제조를 위해 다양한 샘플 테이블을 조립할 수 있습니다.예비 추출실

시스템은 샘플의 신속한 교환을 실현하여 샘플 교환 효율을 효과적으로 높일 수 있다.

SEM은

이 시료대는 SEM 및 LM 시료의 이온 빔 청소, 광택 및 라이닝 향상에 적합하며 환경 온도 또는 LN2 냉각 상황에서 사용할 수 있습니다.SEM 견본대

최대 25mm 크기의 샘플을 제조할 수 있습니다.어댑터는 상품화 생산된 3.1mm 지름 핀이 있는 SEM 샘플 받침대를 끼우는 데 사용된다.

SEM은

경사면 절단 시료대는 시료를 절단하여 종단면(90°) 또는 사단면(35°)을 얻는 데 사용되며, SEM이 시료 내부의 세로 구조를 관찰하기 쉽고 환경 온도나 LN2 냉각 상황에서 사용할 수 있다.SEM clamp holder to hold small sampleswith maximal dimensions of 5(H) x 7(W) x2(T)mm.This holder can be easily transferredto the SEM without removing the sample.TEM Sample Holder (Quick ClampHolder)for single and double-sided low angle millingdown to 4°.