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v 세계 최고 기술 및 국내 독창적인 여러 가지 자체 특허 채택
v 선재 단일, 표준, 다중 세그먼트 및 점 측정 기능 테스트 가능
v 도통 저항은 단독으로 조를 나누어 설정할 수 있고, 한쪽은 도통 저항을 점하여 측정할 수 있다
v 점 측정은 단일 선 민감도 값과 색상을 개별적으로 설정합니다.
v 용량 최대 측정 가능500μF, 측정 가능한 전력 용량 및 용량 양음극
v 단락, 개로 불량 단변 판단이 정확하고 틀림없다
v 시스템 전체 테스트 속도가 기존 제품보다 2배 향상
v 고급 제공USB및RS232인터페이스,및PC온라인 작업
v 특수 재료와 제조 공정, 절연은 습한 공기의 영향을 비교적 적게 받는다
v 통계 보고서 및 인쇄 기능 제공
v 시스템은 제품 포장 수량 요구에 따라 양품 계수 기능을 제공한다.테스트 양품 계수 알림 설정
v 고객의 요구 사항에 따라 맞춤형으로 구성할 수 있는 자체 소프트웨어 및 하드웨어 설계
v 중영문 원클릭 전환
기술 사양 SPECIFICATION
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측정 재다 시 간 Test time |
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끊기/합선Open/short |
빠른 속도(4ms/회/128점),느린 속도(8ms/회/128점) |
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전도 저항Cond |
빠른 속도55회/초,중속45회/초,느린 속도30회/초0.2s/64net(표준)참조 |
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절연 저항Insulation resistance |
한 쌍의 기타3.6s/128net(0.01s)2분의 빠른 속도0.4s/128net(0.01s) 0.01초~60초 설정 선택 가능 |
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교류 고압AC High Voltage |
한 쌍의 기타9.5s/128net(0.01s)2분의 빠른 속도0.9s/128net(0.01s) 0.01초~60초 설정 선택 가능 |
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순간/고속 단락 INT Time |
0초~99초 설정0초는 무한 시간을 나타냅니다.
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측정 시험 삼 수Test parameters |
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항목 눈Project |
기호Symbol |
테스트 범위Test range |
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끊기/합선 |
O/S |
1KΩ~100KΩ |
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유도 저항 테스트 |
COND |
1mΩ~50Ω |
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저항량 측정 |
R |
0.1Ω~5MΩ |
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용량 측정 |
C |
10pF~1000μF |
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다이오드 측량 |
D |
0.0V~7.0V |
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절연 임피던스 |
I.S |
0.1MΩ~1000MΩ |
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직류 누전류 |
IL |
1μA~1000μA |
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고압 누전류 |
IL |
0.01mA~5mA |
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순간 패스스루 임피던스 |
INT.COND |
1mΩ~50Ω |
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빠른 순간 차단 |
INT.OPEN |
0.4ms |
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순간 단락 |
INT.O/S |
2ms/64pin감도 |
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게이지 격 말하다 밝다 Specifications |
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테스트 스캔 모드 Scan Mode |
자동/수동/연속/외부 검색 전환 가능 |
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표시/음향 경보 장치Waming device |
Pass/Fail LED적록색 표시등/화면 표시/음성 경보320*240LCD평면 패널, 블루/흰색 바탕 전환 가능 |
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스토리지 장치 |
내장512KB SRAM,확장 가능1024KB |
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치수Size |
(W×D×H)425×190×350mm |
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무게Weight |
약속14kg(부품 제외)
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선택 구매 손가락 남Selection Guide |
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제품 모델
Product Type |
측정점 수
Test Points |
전압을 재다
Test Voltage |
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LK-5800D |
64pin |
DC:5~1000V |
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LK-5800F |
64 pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
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LK-5800N |
128pin |
DC:5~1000V |
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LK-5800N2 |
256pin |
DC:5~1000V |
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LK-5800NA |
128 pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
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LK-5800NA2 |
256pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
|
LK-5800FA |
128 pin |
DC:5~1500V,AC:100~1000V |
|
LK-5800FA2 |
256pin |
DC:5~1500V,AC:100~1000V |