LJD-C 매체 상수 매체 손실 측정기

1. 개요:

LJD-C형 매체 상수 및 매체 손실 측정기차세대 범용, 다용도, 다량정의 임피던스 테스트 기기로서 테스트 주파수 상한선은 현재 국내에서 비교적 높은160MHz.LJD-C개전 상수 측정기다음과 같은 여러 가지 새로운 기술이 적용됩니다.

듀얼 스캔 기술-주파수 및 튜닝 커패시터의 이중 스캔, 자동 튜닝 검색 기능을 테스트합니다.

이중 테스트 요소 입력-테스트 주파수 및 튜닝 용량 값은 모두 디지털 버튼을 통해 입력할 수 있다.

듀얼 디코딩 튜닝-디지털화 주파수 조정, 디지털화 용량 조정.

자동화 측량 기술-테스트 부품 구현Q값, 공명점 주파수 및 용량의 자동 측정

전체 파라미터 LCD 디스플레이 – 디지털 디스플레이 보조 커패시터, 인덕션,Q값, 신호 소스 주파수, 공명 포인터

DDS디지털 직접 합성 신호원-신원의 높은 보정, 주파수의 정확성, 폭의 높은 안정을 확보한다.

컴퓨터 자동 보정 기술 및 테스트 회로 Z 최적화 - 테스트 회로 잔여 감전 감소 및 제거Q읽기 값이 주파수가 다를 때 수정해야 하는 혼란.

LJD-C매체 상수 및 매체 손실 측정기의 새로운 설계는 의심할 여지 없이 고주파 부품의 임피던스 측정에 대한 해결 방안을 제공하였는데, 이는 고주파 전자 설계에 종사하는 엔지니어, 과학 연구자, 대학교 실험실과 전자 제조업에 더욱 편리한 검측 도구를 제공하였고, 측정 값은 더욱 J확실하며, 측정 효율은 더욱 높다.사용자는 기기가 제시한 어떠한 주파수, 임의의 점 조정 용량 값에서 부품의 품질을 측정할 수 있으며, 양정과 환산 단위에 관심을 가질 필요가 없다.

2.주요 기술 특성：

Q값 측정 범위: 2～1023,스레드 분할:30100﹑300﹑1000, 자동 또는 수동

고유 오차: ≤5 % ± 만도 값의2 ％（200kHz～10MHz）,≤6% ± 만도 값의2％（10MHz～160MHz）

작업 오차: ≤7% ± 만도 값의2％ （200kHz～10MHz）,≤8% ± 만도 값의2％（10MHz～160MHz）

감전 측정 범위: 4.5nH～140mH

용량 직접 측정 범위: 1～200pF

주 용량 조절 범위: 18～220pF

주 용량 조절 정확도: 100pF이하 ±1pF;100pF이상 ±1 ％

신호 소스 주파수 범위: 100kHz～160MHz

주파수 세그먼트 (가상): 100～999.999kHz, 1～9.99999MHz,10～99.9999MHz,100～160MHz

주파수 표시 오차: 3×10 -5±1 단어

셋,고정장치 작업 특성

1.평면 콘덴서:

극 크기: Φ50mm/Φ38mm옵션

극편 간격 조절 가능 범위: ≥15mm

2. 고정장치 플러그 간격:25mm±0.01mm

3. 고정장치 손실 탄젠트 ≤4×10－4 （1MHz）

4. 마이크로핀 해상도:0.001mm

4. 구성:

호스트 1개

전감 9지

클램프 세트

랜덤 파일 세트