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KSI V450E 초음파 스캐닝 현미경으로 계층 공간 측정 가능

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개요

KSI V450E 초음파 스캐닝 현미경 측정 가능한 계층 구멍 다층 측정 가능한 스캐닝 음향학 현미경, 영문은 Scanning Acoustic Microscope, 초음파 스캐닝 현미경이라고도 하며, 각종 부품의 내부 계층, 공동, 균열 등 결함을 측정하기 위한 KSI V450E 초음파 스캐닝 현미경 측정 가능한 계층 구멍

제품 정보

KSI V450E 초음파 스캐닝 현미경으로 계층 공간 측정 가능
KSI V450E 초음파 스캐닝 현미경으로 계층 공간 측정 가능
스캔 음향 현미경

스캔 음향 현미경, 영어는 Scanning Acoustic Microscope, 초음파 스캔 현미경이라고도 하며, 각종 부품의 내부 계층, 구멍, 균열 등의 결함을 감지하는 데 사용된다.

KSI v300E 고정밀 스캔 음향 현미경

1) 스캔 기계 기구

(1) X、Y축은 모두 고정밀 자기부상 직선 모터에 의해 구동된다

(2) X、Y축 최대 스캐닝 스트로크 범위: 300mm × 300mm

(3) X、Y축최소 스캐닝 스트로크 범위: 0.2mm × 0.2mm

(4) 최대 검색 속도:2000mm/s, 최대 스캔 가속도30m/s²

(5) X、Y축 스윕 반복 정밀도 ±0.1um

(6) Z축은 고정밀 자물쇠 스텝 모터로 최대 여정:100mm

(7) Z축전기 반복 정밀도: ± 0.25μm

2) 스캔 모드

(1) 점파형(A 스캔)

(2) 세로 스캐닝(B 스캔)

(3) 횡단 스캐닝(C 스캔)

(5) 등간격 다층 횡단 스캐닝(X 스캔)

(6) 다양한 레벨의 두께와 같은 매개변수를 독립적으로 설정하는 다중 레벨 횡단면 스윕 사용자 정의

(7) 투과 스캐닝

(8) 순차 스캔, 트레이 스캔, 고품질 스캔, 표면 추적 스캔, 홀로그램 스캔 (솔리드 스캔)

(9) 기타

3) 펄스 신호 트랜시버 및 에너지 교환기

(1) 스캔 작업 모드: 단일 채널 작업 모드

(2) 펄스 신호 트랜시버 대역폭:5MHz의～550MHz의

(3) 총 이득:150dB

4) 주요 기능

(1) 구멍, 계층화, 균열, 이물질 등 측정된 공작물의 내부 결함을 테스트한다;

(2) 이미지 템플릿 기능을 스캔하여 매개변수가 일치하는 음향 현미경 이미지를 쉽게 얻을 수 있습니다.

5) 기타 지표

(1) 이미지 형식을 저장하려면 다음과 같이 하십시오.JPG 형식、BMP는TIFF,SAM은；

(2) 최대 이미지 샘플링 픽셀:32000×32000픽셀 입력 이미지 해상도 또는 단일 픽셀 크기를 사용자 정의하여 장치가 자동으로 계산하는 이미지 해상도

6) 구성 및 첨부 파일 목록

(1) KSI v300E는호스트 1대

(2) 프로브: 실제 수요에 근거하여 자유롭게 공유를 선택할 수 있다200다양한 프로브

① 15MHz의머리를 내밀다;

② 30MHz 프로브；

③기타 계약200다양한 프로브 모델;

(3) 컴퓨터 시스템 1세트

⑦인텔코어i5는멀티 코어 프로세서

⑧128기가바이트솔리드 스테이트 드라이브+ 1000기가바이트기계식 하드 드라이브

⑨16 기가바이트메모리

⑩2개27인치 모니터

11 정품마이크로소프트 윈도우 10운영 체제 (컴퓨터 내장)

12 키보드 및 마우스

13 Ksi 비전호스트 제어 검색 소프트웨어

14 원격 수리 소프트웨어

(4) 기기의 나머지 부품은 다음과 같다.

①모터 드라이브 3개,

②초음파 신호 발생기 및 수신기 1개,

③大理石防震平台；

④초음파 신호 전치 증폭기 1개,

⑤싱크대 1개

⑥자동 배수구 1개

⑦건수포 1조

(5) 액세서리, 소모품, 손상되기 쉬운 부품:

①임의 첨부: 사용자 안내서 등

②모든케이블 및프로브는 모두 손상되기 쉬운 부품에 속하며,1개월내부 비인위적인 손상은 교체할 수 있습니다.

KSI v450E 대형 초고해상도 초음파 무손실 측정기

KSI V450E 超声波扫描显微镜可测分层空洞

새로운 KSI v450EDBC를 위한 음향 현미경 스캔보드, IGBT 단위, 태양 전지판, 다 웨이퍼그리고 다른큰 샘플 검사.새로운v450E는KSI의 비교할 수 없는 결합고속 스캔그리고 독특한 진동 분연 화강암 디자인450mm x 450mm의 여분의 큰 스캔 범위.와 함께KSI v450E 쉬운 처리그리고빠른 평가또는큰 크기 샘플보장되어 있습니다.

KSI v450E 주요 특징:

• DBC 기판/IGBT 단위/PCB를 위한 특별히 큰 450mm x 450mm 스캔 필드

• 추가 두께 된 대리석 기초 및 깊은 물 DBC 기판 및 IGBT 모듈의 자동 및 반 자동 테스트를 완전히 쉽게 만들 수 있습니다

• 쉬운 대형 샘플 처리를 위한 넓은 커버 오핑을 가진 새로운 매우 인체공학적이고 사용자 친화적인 디자인

• DBC, IGBT, PCB 보드, 태양 전지판, 다중 웨이퍼 및 다른 모든 대형 크기 및 표준 응용 프로그램을 포함한 대형 샘플 검사에 완벽하게 적합합니다

동시에 다중 JEDEC 트레이 스캔모든 표준을 위해.

• 올 인 원PCB, 다중 jedec, 스스캔 음향 현미경 스스스캔 스스스캔 스스스캔 음향 현미경 PCB, 다중 jedec, 스스스스스캔 스스스스스캔 음향 현미경, PCB, 다중 웨이퍼, DBC, DBC, IGBT, 다중 웨이퍼

• 일치하지 않는 진동 분연 화강암 디자인그리고 최대 가진 고속 선형 드라이브. 이동속도 2,000 mm/s그리고 최대가속도 30,000 mm/s²

• 독특한 FCT™ (유체 절단 기술) 변환기

사용할 수 있는 옵션:

• 모든 응용 프로그램 (웨이퍼, jedec, BGA's, DBC, IGBT, Flip 칩 등)을 위한 고객 특정 트레이 고정

• 일정한 커플링 액체 품질와 함께DI-물 충전 단위그리고물 순수성 제어

• 제거또는커플링 액체의 오염과 가스 거품for최고 그림 품질 및 안정적인 스캔 프로세스

• 자동화또는샘플 위치, 스캔 프로세스, 실패 감지, 분석 및 정량

IP-holding GmbH, Walther-Rathenau-Str.18, 35745, Herborn, 독일.

KSI V-quattro 쿼드 프로브 초음파 스캐닝 현미경 시스템

멀티태스킹 시스템 - 4 프로브 초음파 스캐닝 현미경 분석 시스템

4개의 에너지 교환기를 동시에 사용하는 쿼드 프로브 시스템
- 최대 스캔 속도: 2000mm/s
- 다른 브랜드에 비해 30% 더 효율적인 스캔
- 최대 스캔 범위: 1000mm × 700mm
- 최소 스캔 범위: 200 μm × 200 μm
- 대역폭: 550MHz
- 최대 확대 배수: 250배
- 새로운 FCT 에너지 교환기

KSI V-duo 듀얼 프로브 초음파 스캐닝 현미경 시스템

듀얼 프로브 초음파 스캔 현미경 시스템, 동시에 2개의 에너지 교환기 사용
- 최대 스캔 속도: 2000mm/s
- 다른 브랜드에 비해 30% 더 효율적인 스캔
- 최대 스캔 범위: 700mm x 600mm
- 최소 스캔 범위: 200 μm × 200 μm
- 대역폭: 550MHz
- 최대 확대 배수: 625배
- 신형 에너지 교환기

KSI V-Octo 8 프로브 대형 초음파 스캐닝 현미경 시스템

대형 8 프로브 초음파 스캐닝 현미경 분석 시스템

이 시스템은 8개의 에너지 교환기를 동시에 사용하여 빠른 이미지 수집과 효율성을 최대한 보장합니다.
- 최대 스캔 속도: 2000mm/s
- 다른 브랜드에 비해 30% 더 효율적인 스캔
- 최대 스캔 범위: 1000mm × 700mm
- 최소 스캔 범위: 200 μm × 200 μm
- 대역폭: 550MHz
- 최대 확대 배수: 250배
- 신형 에너지 교환기

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