가스 고체 고온 반응 원위치 XAFS 테스트 장치

가스 고체 고온 반응 원위치 XAFS 테스트 장치매개변수,

1.장치는 동기 방사 X선 형광 테스트 모드와 투사 테스트 모드의 전환을 실현할 수 있다;

2.장치는 온도 제어기, 제자리 풀 챔버, 가열 시스템, 상위기 소프트웨어를 포함한다;

3.장치는 PID 스마트 제어, USB 신호 전송, 온도 곡선 데이터 수집, 저장 가능, 조달 가능;

4.다중 온도 제어 교정 가능, 온도 제한 설정, 온도는 다중 프로그램 세그먼트 설정 가능;

5.온도 범위 상온-800 ℃, 온도 제어 정밀도 0.5 ℃ 미만, 온도 상승 속도: 80 ℃/min;

6.장치는 저항 가열을 사용하고, 센서는 샘플 아래에 배치하여 샘플의 실제 온도 변화를 직관적으로 반영할 수 있다;

7.샘플 지름 11mm (사용자 정의 가능), 창 지름 30mm;

8. 장치 창은 폴리아미드를 사용하여 신호 손실이 적고 독성이 없습니다.

9.장치는 O형 코일로 밀봉하여 밀봉이 양호하고 진공을 뽑을 수 있으며 반응기체를 충전할 수 있다;

10.장치는 항공 알루미늄 재질을 사용하며, 장치의 외형은 90mm * 66mm * 30mm, 순중량은 0.5kg 미만이다;

11. 챔버 냉각 방식: 순환수 냉각;

12.가스 고온 반응 원위치 XAFS 테스트 장치는 조작이 간단하고 설치가 편리하며 테스트 일관성이 좋다.