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허페이 고저온 충격 시험상자재료 구조 또는 복합 재료가 순간적으로 * 온도 및 극저온의 연속적인 환경에서 견딜 수 있는 정도를 측정하여 열팽창과 냉축으로 인한 화학적 변화나 물리적 피해를 비교적 짧은 시간 내에 시험하는 데 사용한다.고저온충격시험함은 전자전기부품, 자동화부품, 통신부품, 자동차부품, 금속, 화학재료, 플라스틱 등 업종, 국방공업, 우주비행, 병공업, BGA, PCB기방아쇠, 전자칩IC, 반도체도자기 및 고분자재료의 물리적가축변화에 사용되며 그 재료의 고저온에 대한 반복적인 저항력과 제품의 열팽창과 랭축에서 산출되는 화학변화 또는 물리적상해를 시험하여 리상적인 제품의 IC제품의 품질이 없고 우수한 기계적부품에 대한 우수한 IC부품이 없는것을 확인할수 있다.
고저온 충격 시험상자 제품 설명:
1. 주변 대기 온도의 급격한 변화 조건에서 반도체 부품, 전자 제품 및 기타 장비의 적응성 시험에 적용.
2. 입식 두 상자 구조, 고저 온도 상자 순환 과정 자동 제어, 체류 및 전환 시간 조정 가능, 스테인리스강 내담, 다형식 기록, 다양한 안전 보호 조치 및 장치 설치.
3. MIL-STD-810D 방법 032, GB2423.22-89Na, GJB1505-86 등을 만족시킨다.
허페이 고저온 충격 시험상자기술 매개 변수:
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온도 충격 시험기 |
CTS01은 |
CTS03은 |
CTS05 |
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Room 크기(mm) |
470× 470× 460 |
680× 680× 650 |
780× 780× 850 |
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바구니 크기 (mm) |
350× 350× 300 |
580× 580× 500 |
680× 680× 700 |
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폼 팩터 (mm) |
2000× 1100× 1650 |
2350× 1360× 2000 |
2500× 1580× 2200 |
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기술 술 삼 수 |
온도 범위 |
고온 |
+ 60℃~ 150℃ |
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저온 |
- 70℃~- 10℃ |
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온도 예열 한계 / 예냉 한계 |
+ 180℃ /- 75℃ |
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온도 변동 / 온도 편차 |
± 0.5℃ /± 2℃ |
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온도 상승 시간 / 온도 하락 시간 |
45min (20~150℃) /45min (20~55℃) |
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온도 회복 시간 |
≤ 5분 |
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바구니를 들어 중량을 견디다. |
10Kg의 |
18Kg의 |
25Kg의 |
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온도 컨트롤러 |
프로그래밍 가능한 온도 컨트롤러 수입 |
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온도 센서 |
Pt100 백금 저항 |
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냉동 |
냉각 장치 / 방식 |
수입 독일 곡륜 반폐쇄 압축기/이원 재첩 압축 냉동 |
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냉각 방식 |
수냉(냉각수압: 0.2~0.4MPa, 수온: ≤30℃) |
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응축기 |
보드 히터 |
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히터, 냉각기 |
니켈 크롬 합금 전기 가열기, 날개식 냉각기 |
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순환풍기 |
축류풍기 |
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에어 실린더 |
높음, 낮음 온실에서 드라이브 전환 |
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공기압축기 |
실린더를 구동하는 압축 공기 공급 (부품 선택) |
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보안 조치 |
과온, 과부하, 과압, 누전, 합선, 전원 결상, 착상 등 보호 |
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재료 |
셸 / 내부 벽 / 인슐레이션 |
냉간 압연 강판 정전기 스프레이 / SUS304 스테인리스 강판 / 경질 폴리아미드 폼 또는 극세사 유리 면 |
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표준 구성 |
테스트 구멍, 조명, 관찰창, 도금 가열막 중공 유리 관찰창 |
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전원 |
380V± 10%, 50Hz, 3P + N + G |
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시험방법을 만족시키다 |
GB/T2423.22, GJB150.5, GJB360.7, GJB367.2 |
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전력(Kw) |
10.0 |
15.0 |
20.0 |
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