FISCHERSCOPE XDV-SDD 형광 도금층 두께 측정기

제품 설명

XDV-SDD는 측정 공간이 넓고 시료 배치가 편리하여 평평한 시료를 배치할 수 있으며 모양이 복잡한 큰 시료를 배치할 수 있다.연속 테스트 또는 도금 두께 및 요소 분포 측정은 빠른 프로그래밍 가능한 XY 워크스테이션으로 쉽게 수행할 수 있습니다.조작이 매우 인간적이고 측정문이 열리기 편리하며 계기의 앞부분의 제어판은 여러가지 기능을 구비하여 일상사용이 쉽고 편리하다.

XDV-SDD형 기기는 FISCHER 제품 중 강력한 X선 형광 기기 중 하나다.특히 커진 실리콘 드리프트 탐지기 (SDD) 를 장착했다.50mm?의 탐지기 창은 빠르고 정확하게 작은 면적의 측정점을 측정할 수 있도록 합니다.이밖에 계기는 또 여러가지 부동한 려과편을 배치하여 부동한 측정임무에 최적화된 자극조건을 구축할수 있다.FISCHERSCOPE XRAY XDVSDD형 기기는 감지 영역이 크고 해상도가 좋은 실리콘 드리프트 수신기를 장착하여 큰 정직기를 사용하는 경우 높은 계수율에 도달할 수 있어 좋은 중복 정밀도와 매우 낮은 검사 하한선을 실현할 수 있다.XDV-SDD는 흔적 분석에서 초슬림 도금 측정에 매우 적합합니다.저에너지 복사의 민감도를 높임과 동시에 측정 가능한 원소의 범위도"더 낮은 원자 서수의 원소로 확대되었기 때문에 공기 중의 인이나 알루미늄을 안정적으로 측정할 수 있다.

인스턴스 적용:

법률 규정은 전자 부품, 장난감 또는 포장재와 같은 다양한 유해 물질의 함량을 엄격히 제한합니다.XDV-SDD를 사용하면 이러한 제한이 충족되는지 빠르고 쉽게 확인할 수 있습니다.예를 들어, 몇 ppm으로 제한된 특정 중요한 화학 요소인 Pb, Hg 및 Cd 등을 측정합니다.

알루미늄 합금의 Pb, Cd와 같은 금속의 유해 물질

장난감: Pb, Cd, Hg 감지

피쳐:

. 베릴륨 창과 텅스텐 팔라듐이 있는 마이크로 포커스 엑스선 튜브.* 높은 작동 조건: 50kv, 50W
. X선 탐지기는 펄더의 차가운 실리콘 표류 탐지기를 사용한다
. 정직기: 4개, 지름 0.1mm에서 3mm로 자동 전환 가능
. 기본 필터: 6개, 팝업 기능이 있는 프로그래밍 가능한 XY 플랫폼 자동 전환
. 비디오 카메라는 실시간으로 측정 위치를 볼 수 있으며 십자선에 교정된 눈금 눈금자가 있으며 측정 점의 실제 크기도 이미지에 표시됩니다.
. 설계가 허가되고 방호가 전면적이며 독일 X선 조례 제4장 제3절에 부합된다

일반적인 애플리케이션:

. 전자 및 반도체 산업과 같은 슬림형 도금 레이어 측정
. 흔적 분석(예: RoHS, 장난감 및 포장재 지시에 따른 유해물질 검출)
. 고정밀 금 및 귀금속 분석 태양광 산업
. NiP 레이어의 두께와 성분 측정