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인신계 측정기 측정기 검정 장치

협상 가능업데이트05/06
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개요

인신계 측정기 측정기 검정 장치는 순수 기계식의 고정밀 변위 측정 마이크로 기기이다.JJG762-2007 인신계 검정 규정 요구에 따라 각종 인신계에 대한 표정에 전문적으로 사용되며, 변위 센서의 검정 및 상응하는 백분표, 천분표의 검정에도 널리 사용된다.

제품 정보

JW-YSJ 형 스트레치 측정기 스트레치 측정기 스트레치 측정기 스트레치 측정 장치

순수 기계식의 고정밀 변위 측정 마이크로 기기이다.JJG762-2007 인신계 검정 규정 요구에 따라 각종 인신계에 대한 표정에 전문적으로 사용되며, 변위 센서의 검정 및 상응하는 백분표, 천분표의 검정에도 널리 사용된다.

본 기기인신계 측정기 측정기 검정 장치정밀 미분 측정 헤드 및 측정 브래킷으로 구성되어 있습니다.이 측정기는 블록식 구조 설계이다.정밀 미분

헤드 및 받침대는 다양한 방식이나 위치로 조합되어 있어 다양한 규격 모델의 인신계에 대한 계량 측정을 쉽게 할 수 있다.사용자는 또한 자신의 테스트 특수 수요에 따라 전용 부품을 구성하여 정밀 미세 변형량 계량을 진행할 수 있다.

정밀 미분 측정 헤드는 슬라이딩 로드, 로드 커버, 판독 내통, 판독 외통 및 고정밀 나사산으로 구성되어 있다.

그 대량정은 25 ㎜이다.최소분도(유표분도) 0.0002 ㎜;회전 외통 분도 0.002 ㎜.

변위 변수 읽기:

L=(a+0.001b+0.0001c)-(a0+0.001b0+0.001c0)

여기서: a0 b0 c0은 해당 변위 변화 전 판독수입니다.

a - 인라인 밀리미터 각선 판독

b - 외통 각선 판독

c - 커서 각선 판독

1. 스트레치 게이지 피치 범위 측정 Lmax200㎜

2. 받침대 위 팔뚝 설치 공경 측정φ10;φ28

3. 미분 측정 헤드 읽기 내통 축 방향 눈금0.5 ㎜/칸

4, 미분 측정 헤드 판독 수 내통 유표 눈금0.0002 ㎜/칸

5. 미분 측정 헤드 읽기 외통원 주 눈금0.002 ㎜/칸

6, 고정밀 미분 측정 헤드 정밀도 지표

인신계 측정기 측정기 검정 장치측정기 표시 오차:

양정 0.5 ㎜ 이내 ≤ 0.5μm 오차

양정 0.5 ㎜ 이상 ≤ 0.10% 점별 상대 오차

참조 기준:

JJF 1096-2002스트레치 측정기 교정 사양

ISO9513:1999금속재료 단축 시험용 인신계 측정

JJG762-1992인신계 검정 규정

0.5 레벨 스트레치 측정 가능