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전화
18512186724
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주소
상해시 포동신구 한여름로 169호 A동 409실
광염과학기술주식유한회사
개요
광염 테크놀로지 QE-RX 태양전지 효율 손실 분석기는 고효율 태양전지 개발에 사용할 수 있다.QE-RX는 PV-EQE, 반사율 및 PV-IQE 데이터를 측정할 수 있을 뿐만 아니라 분석 소프트웨어인 SQ-JVFLA와 결합하여 Jsc, Voc 및 FF 손실을 분석할 수 있다.광염은 QE-RX 내에 세 가지 다른 테스트 기능을 통합하고 SQ-JVFLA 소프트웨어를 개발하여 사용자가 Shockley-Queisser 열 한계 이론을 사용하여 세 가지 다른 손실을 분석할 수 있도록 도왔다.
제품 정보
정밀도를 높이는 실험실 이기_AM1.5G 태양광 시뮬레이터 태양광 전지 효율 - 손실 분석 솔루션 SPOT-V 반점 관측기 탑재
반점 관측기는 왜 당신의 과학 연구 정진을 도울 수 있습니까?
· 선명한 관찰: 암실이나 광선이 제한된 실험환경에서도 광반을 선명하게 관측하여 견본이 우량한 수광구역에 있도록 확보할수 있다.
· 간편한 사용 편의성: 번거로운 설정 없이 플러그 앤 플레이 방식으로 다양한 스펙트럼 시스템에 사용할 수 있어 반점 위치를 쉽게 파악할 수 있습니다.
· 다기능 응용: 미세한 샘플이든 복잡한 스펙트럼 실험이든 모두 신뢰할 수 있는 관측 지원을 제공하여 정확한 실험 설계와 데이터 분석을 도울 수 있습니다.
· 효율 향상: 반점 관측기는 반점 오프셋 또는 샘플 오프셋 문제를 효과적으로 피할 수 있으며, 매번 측정의 정확성을 보장하고, 실험 효율을 향상시키며, 오차를 줄일 수 있다.
특징
QE-RX 태양광 배터리 효율 손실 분석기의 특징은 다음과 같습니다.
* 정확성 및 불확실성 감소
QE-RX의 교정은 NIST로 추적 가능하며, 이로 인해 QE-RX의 테스트 데이터는 다른 EQE 테스트 시스템보다 불확실성이 낮습니다.또한 QE-RX는 10년 동안 ISO/IEC 17025 인증을 받은 교정 실험실을 보유한 Enlitech에 의해 개발되었습니다.이로 인해 QE-RX의 Si 태양 전지 테스트 결과는 매우 정확합니다.QE-RX를 사용하면 신뢰할 수 있는 결과를 얻을 수 있습니다.
* 컴팩트하지만 다양한 기능
QE-RX는 모든 광학 및 기계 부품을 80cm x 80cm x 60cm의 본체에 통합하며, 여기에는 전기 신호 수집 자물쇠 증폭기가 포함된다.QE-RX는 컴팩트한 크기에 국한되지 않고 태양 전지의 EQE, 스펙트럼 응답, 반사율 및 IQE를 포함한 다양한 테스트 데이터를 제공합니다.컴팩트하고 다양한 기능이 QE-RX의 장점입니다.
* 전력 손실 분석
QE-RX는 SQ-JVFL 소프트웨어와 결합하여 Jsc-loss, Voc-loss, FF-loss 및 대역 갭 컴퓨팅을 포함한 가장 완전한 분석 기능을 제공합니다.이러한 매개 변수는 생산 생산량 제어 및 효율성 제안의 핵심 요소이며 이로 인해 QE-RX는 태양광 산업의 우수한 파트너가되었습니다.
.PESC, PERC, PERL, HJT, 백접촉, 양면 및 TOP-Con 실리콘 태양전지용
. QE(양자 효율), PV-EQE(외부 양자 효율), IPCE(입사 광자-전자 변환 효율), SR(스펙트럼 응답), IQE(내부 양자 효율) 및 반사율에 대한 데이터를 제공합니다.
. 구조가 치밀하고 중복성이 99.5% 이상 높습니다.
. 파장 범위: 300~1200nm
.Jsc 손실 분석 및 보고 (SQ-JVFLA 소프트웨어 사용).
. 직업 손실 분석 및 보고 (SQ-JVFLA 소프트웨어 사용).
.FF 손실 분석 및 보고 (SQ-JVFLA 소프트웨어 사용)
. 제공되는 EQE 불확실성 평가 보고서 및 ISO/IEC 17025 인증을 받은 품질 관리는 저널 논문 투고에 사용될 수 있습니다.
.다양하고 맞춤화된 샘플 테스트 장치.
시스템 설계
규격
QE-RX 호스트 기능 |
Ø 측정 파장 범위: 300-1200nm(확장 가능) Ø 각 파장 측정 중복성: 300-390nm 평균 비중복성 ≤ 0.3%, 400-1000nm 평균 비중복성 ≤ 0.15%.1000-1200nm 파장 평균 비중복성 ≤0.25% Ø 단락 전류 밀도 비반복성 ≤ 0.1% Ø 정확성 <0.1% Ø 측정 10회 평균 불반복성 계산 = 상대적 표준 차이 / 평균 * 100% Ø 측정 시간: 300-1200nm, 스캔 간격 10nm, 측정 시간 3분 미만 Ø 측정 암상자: 80cm 측정 마스크 암실 Ø 적용 환경: 온도 15~35도, 습도 20%~65% Ø 단락 전류, 회로 전압, 충전 요소의 3대 손실 분석 |
소프트웨어 기능 |
Ø 절대광 강도 보정 Ø 스펙트럼 응답 측정 Ø 외부 양자 효율 측정(EQE) Ø 대역폭 에너지 갭 분석(Bandgap) Ø 자동, 즉각적인 단락 전류 밀도 Jsc 계산 Ø 단파장 단락 전류 자동 계산 Ø 운영 전체 하드웨어 시스템 및 데이터 읽기를 독립적으로 제어 Ø 스펙트럼 미스매치 계산(MMF) Ø 신호 모니터링 기능 Ø 임의의 AM 스펙트럼 단락 전류 밀도 계산 기능 Ø 데이터 저장 형식 txt |
적용 범위
QE-RX 태양광 배터리 효율 손실 분석기는 다음과 같은 용도로 사용할 수 있습니다.
*PERC/HJT/TOP-Con 태양광 전지 효율 - 손실 분석
*IEC-60904-8 스펙트럼 응답 측정
*IEC-60904-7 미스매치 계산
*IEC-60904-1 MMF 보정
* 규소 태양전지 가공 품질 제어
* 규소 태양전지 밴드 갭 측정
