EDX 시리즈 x 형광 분광기

협상 가능업데이트06/09

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개요

EDX 시리즈 x 형광 분광기, 에너지 색산 X선 형광 분광기는 RoHS amp에 적용됩니다.amp;WEEE 지령 분석, 각종 금속막 두께 측정, 공업 도금층 두께 측정, 할로겐 지령 Cl 원소 분석, 광석, 원자재 성분 분석 등, 자성 자성 매체와 반도체 및 각종 합금, 귀금속 성분 분석.

제품 정보

EDX 시리즈 x 형광 분광기，에너지 색산X방사선 형광 분광기적용 대상RoHS & WEEE명령 분석, 각종 금속막 두께 측정, 공업 도금층 두께 측정, 할로겐 지령Cl요소 분석, 광석, 원자재 성분 분석 등, 자성 자성 매체와 반도체 및 각종 합성금, 귀금속 성분 분석.
EDX 시리즈 x 형광 분광기주요 특징
●요소 범위 분석S-U

●분석 요소의 농도 범위 2ppm—100%
●전체 시스템 안정성 연속8시간 측정RSD<0.25%
● ROHS/WEEE테스트 시간100-120초

●미국 수입 전기 냉동Si（Pin）탐지기

●전기 냉각Si（Pin）탐지기 결정 면적15mm2해상도<155eV
●전체 디지털 펄스 프로세서 기술

●우수한 등받이 비율, 매우 높은 흔적 분석 감도

● 50KV,50W자체 보호X-방사선관

●복합 필터 스마트 전환 기술

피쳐:

☆염소 원소와 페인트 중의 납을 분석할 수 있다

☆통합FP법,Alpha계수법, 경험계수법

☆안전 연동 장치, 소프트와 하드가 결합된 복사 설계

☆간단한 원클릭 조작

☆지능형 소프트웨어 자동 매개 변수 설정 및 필터 선택

☆X방사선관 초온 보호

☆액체 질소 및 기타 소모품 없이 전자 냉각

기술 사양

계기 모델		EDX-1800x 형광 분광기
분석 원리		에너지 색산 엑스선 형광 분석법
분석 범위		S(16)-U(92) 모든 요소
최소 체크 아웃		Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm
샘플 모양		모든 크기, 불규칙한 모양
샘플 유형		플라스틱/금속/박막/분말/액체 등
엑스선관	표적재	몰리브덴(Mo) 표적
	관전압	5─50KV
	관전류	1─1000ｕA
탐지기		미국 AMP-TEK Si-PIN 탐지기, 고속 펄스 고도 분석 시스템
고압 발생기		미국 SPELLMAN 고압 발생기
필터		스마트 필터 자동 선택 및 자동 변환
샘플 관찰		500만 컬러 카메라
분석 소프트웨어		평생 무료 업그레이드
분석 방법		알파계수법(NBS-GSC법), FP법, 표준곡선법
규범에 부합하다		IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006

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