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상해시 고루도로 1198롱330호 103
듀얼 채널 고주파 펄스 발생 수신기 CTS-8072PR+
CTS-8072PR + 펄스 발생 수신기는 고주파 검측 연구에 응용되는 전용 기기로 저소음과 광대역의 수신 증폭 회로와 고성능 첨단 펄스 발생기 및 고압 전원으로 구성된 첨단 송신 회로를 갖추고 있다.이중 채널 데이터 수집 기능을 제공하며 컴퓨터 동기화 제어를 실현할 수 있다.

CTS-8072PR + 펄스 발생 수신기는 고주파 검측 연구에 응용되는 전용 기기로 저소음과 광대역의 수신 증폭 회로와 고성능 첨단 펄스 발생기 및 고압 전원으로 구성된 첨단 송신 회로를 갖추고 있다.이중 채널 데이터 수집 기능을 제공하며 컴퓨터 동기화 제어를 실현할 수 있다.
고정밀 측정: 물체의 크기, 모양 및 위치를 정확하게 측정할 수 있습니다.례를 들면 공업무손상검사에서 부품의 미소한 결함을 정확하게 검출할수 있다.
좁은 웨이브: 웨이브가 좁아 탐지의 방향성과 위치 정밀도를 높일 수 있습니다.
특수 설계는 고주파 프로브의 첨단 펄스 발생기와 일치하며, 상승 시간은 <3ns, -110V~-320V로 조절할 수 있다.
펄스 반복 주파수 조절 가능, 높이 20kHz.
신호 대역폭: 20KHz~110MHz(-3dB).
- 6dB~+54dB, 1dB 스텝의 RF 가변 이득 범위.
20kHz 또는 20MHz 옵션 하이패스 필터.
500MHz 샘플링 속도/12bit 데이터 수집 모듈.
표준 네트워크 인터페이스로 컴퓨터 동기화 제어 및 데이터 수집을 실현한다.
당사가 자체 개발한 30MHz, 50MHz 등 계열의 고주파 프로브를 제공합니다.







응용 분야:
활용 사례:
CTS-8072PR + 고주파 펄스 송신 수신기를 사용하여 당사가 자체 개발한 50MHz 고주파 프로브와 함께 얇은 0.08mm 플러그의 두께 측정을 실현할 수 있으며 측정 결과가 정확하고 파형이 선명하며 파형이 1주기에 불과하다
두께 측정
전자전공: 집적회로칩, 인쇄회로기판의 결함을 검측한다.초음파 스캔 현미경 SAM, 고주파 C 스캔 등.
재료 연구: 복합 재료의 미세한 균열과 같은 작은 재료의 구조적 무결성을 평가합니다.재료의 결정 입도 평가 등을 포함하여 음속, 감쇠 등 재료의 음향학적 특성을 측정하는 데 응용할 수 있다.
정밀기계: 정밀부품의 표면과 내부 결함을 검측한다.
프로브 테스트: 고주파 초음파 프로브의 음향학적 특성에 대한 평가 및 성능 지표에 대한 테스트에 적용할 수 있습니다.
음향학 전공: 서로 다른 매체에서 고주파 초음파의 전파 특성을 탐구한다.
| 프로젝트 | 매개변수 |
| 펄스 유형 | 음첨파 |
| 패턴 | 싱글, 듀얼 |
| 펄스 강하 및 상승 시간 | 일반값<3ns, 대형값≤3.5ns |
| 펄스 폭 | -110V~-320V |
| 댐퍼 | 25 오메가, 33 오메가, 50 오메가, 100 오메가 총 4단 옵션 |
| 펄스 폭 | 7ns(50º 댐핑) |
| 펄스 반복 주파수 | 100Hz, 200Hz,..., 19kHz, 20kHz 총 29단 옵션 |
| 이득 조절 범위 | - 6dB ~ 54dB |
| 동기식 펄스 출력 | TTL 레벨(출력 임피던스 50º) |
| 외부 트리거 입력 | TTL 레벨, 50ns 이상의 펄스 |
| 대역폭 | 20kHz ~ 110MHz의 |
| 대형 신호 출력 | ±1.5Vp-p |
| 하이패스 필터 | 20kHz 또는 20MHz |
| 로우 패스 필터 | 110MHz의 |
| 입력 임피던스 | 50Ω |
| 출력 임피던스 | 50Ω |
| 입출력 인터페이스 | T, R, RF 출력, 외부 트리거 Trig, 동기화 출력 Sync |
| 전원 | 옵션 AC 220V 또는 AC 110V, 50Hz~60Hz, 출하 시 AC 220V 표준 |
| 외형 치수 | 305mm × 230mm × 105mm(길이 × 너비 × 높이) |
| 환경 온도 | 0~50 ℃ |
| 무게 | 5.0 킬로그램 |