Bruker 형광/적외선 분광기

Bruker 형광/적외선 분광기는 처음으로 상업화된 휴대용 마이크로존 X선 형광 분광기로서 고고학과 예술품과 같은 옳고 귀중한 물품에 대한 현장 성분 분석의 수요를 만족시키기 위해 설계되었다.

　　Bruker 형광/적외선 분광기처음으로 상업화된 휴대용 마이크로존 X선 형광 분광기로서 고고학과 예술품과 같은 옳고 귀중한 물품에 대한 현장 성분 분석의 수요를 만족시키기 위해 설계되었다.

　　Bruker 형광/적외선 분광기Na(11)-U(92) 사이의 모든 요소를 동시에 다원적으로 분석할 수 있으며 공간 해상도는 70 마이크로미터에 달할 수 있습니다.측정은 비파괴, 비접촉식 방법을 채택하여 조사 과정에서 어떠한 물품도 손상시키지 않는다.브룩 브루커 ARTAXX선 형광 분광기를 30분 이내에 현장에 설치하고 조작할 수 있다.브룩 BrukerARTAXX선 형광 분광기를 조작하는 데 필요한 유일한 것은 정상적인 전력 공급이다.응용 프로그램 요구 사항 및 사용 가능한 예산에 따라 다양한 기능과 사용자 편안함을 갖춘 몇 가지 구성된 분광기를 선택할 수 있습니다.

　　Bruker 형광/적외선 분광기특징: 4세대 XFlash®SDD 실리콘 드리프트 탐지기는 팔 스티커 냉각 기술을 사용하여 액체 질소가 필요하지 않으며 아무런 소비도 없습니다.해상도는 165eVatMnKa100Kcps보다 우수합니다.145eV 해상도 탐지기 옵션보다 우수합니다.유연한 디자인으로 샘플 검사 시 공간, 샘플 사이즈에 제한을 받지 않을 수 있습니다.X-Y-Z 3차원 자동 위치 추적 샘플대, 충돌 방지 보호, 점, 선, 면 스캔 기능을 자동으로 완성할 수 있습니다.다양한 표적재를 갖춘 저전력 X선 광관, CCD 카메라, 마이크로 포커스 다공성 모세관 거울, XYZ 샘플대, 레이저 위치 추적 시스템.마이크로 포커스 다공성 모세관 거울은 준직관에 비해 강도가 1000배 이상 높아진다.애플리케이션 요구 사항에 따라 다양한 구성이 제공됩니다.문물보호, 문물복원, 고고학, 예술품, 필적감정, 서화, 형사수사, 재료연구, 전자, 자동차, 항공우주 등 분야에 응용된다.