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AFG-303x & AFG-302x 신호원

협상 가능업데이트11/30
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개요

고위층 전자는 AFG-3000 시리즈를 각각 20MHz/30MHz 단일 격리 채널 및 이중 격리 채널의 임의 파형 신호 생성기로 출시하여 산업, 과학 연구 및 교육 분야에 적용

제품 정보

고위층 전자는 AFG-3000 시리즈를 각각 20MHz/30MHz 단일 격리 채널 및 이중 격리 채널의 임의 파형 신호 생성기로 출시하여 산업, 과학 연구 및 교육 분야에 적용한다.격리식 출력의 설계에서 모든 출력통로의 접지와 대지는 격리되어 부동회로의 테스트 응용에 적용된다. 예를 들어 전원공급기의 DC 전압과 직렬된 후 직류와 교류하는 출력은 최고 +42V 또는 -42V에 달할 수 있다. 또한 이중통로는 각각 독립적으로 사용하거나 여러 대의 기기를 동시에 출력하여 사용할 수 있으며 접지 참고의 문제를 고려할 필요가 없다. 예를 들면 자동차용 전자의 엔진 컨트롤러나 전동장치 등이다.250MSa/s 샘플링 속도, 16비트 해상도, 8M 포인트 메모리 깊이의 임의의 파형 특성을 제공합니다.미리 편집된 파형 파일을 메모리에 다운로드하여 임의의 파형을 생성하는 것 외에도 사용자는 AFG-3000 시리즈에 내장된 DSOLink 기능을 이용하여 고위층 전자 디지털 오실로스코프에서 측정된 신호를 복제하여 생성할 수 있다.

AFG-3000 시리즈는 최대 6대 및 12채널의 위상 동기화를 지원하는 다중 채널 동기화 위상 실행을 지원합니다.사용자는 외부 신호원을 통해 10MHz의 원자시계 주파수 표준을 입력하여 주파수 출력의 정확도를 높일 수 있다.주파수 스캔 및 진폭 스캔을 지원하며, 선형/대수, 단방향(톱니파)/양방향(삼각파), 연속/단일 트리거/문턱 트리거의 기능과 결합하여 다양한 스캔 방식으로 다양한 응용 수요를 달성할 수 있다.주파수 스캔은 필터 및 저주파 증폭기와 같은 전자 부품의 주파수 응답 등을 테스트할 수 있습니다.진폭 스캔은 진동 테스트(진동 측정기와 결합해 사용), 각종 재료의 피로 노화 테스트 및 저주파 증폭기의 선형도 테스트 등을 시뮬레이션할 수 있다.