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Zhuhai Truth Optical Instrument Co., Ltd
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요약
기이한 값 분해 방법을 이용하여 레이저 입도계의 광에너지 계수 매트릭스 특성을 분석하고 입도 분포가 광에너지 분포에 따라 변화하는 것을 반영할 수 있는 민감도 파라미터를 정의하여 특정 파라미터 조건에서의 측정 상한선을 제시하였다.유도는 계기의 측정 상한선과 물리적 매개 변수 사이의 해석 표현식을 얻어냈는데, 입사광의 파장이 변하지 않는 상황에서 계기의 산란광에 대한 작은 수신각이 이 계기의 측정 상한선을 결정한다는 것을 발견하였다.실험 결과는 이 표현식의 정확성을 검증했다.
키워드 산란;상한선 측정하기;레이저 입도계;기이한 값 분해
머리말
레이저 입도계는 입자 산란광의 공간(각도) 분포를 측정하여 입자의 크기와 분포를 분석하는 기구로, 이미 각종 분체, 액체 스프레이, 펄프, 유액 등의 입도 측정에 광범위하게 응용되었다[1].레이저 입도계의 기초 이론과 응용 기술은 계속 발전하고 있는데 그 중에서 반연 알고리즘[2G3]과 측정 범위의 확장[4G5] 등 응용 기술에 대한 연구가 비교적 많다.왕천은 등[2]은 벡터 유사도를 기반으로 한 반복 알고리즘을 제기하여 다봉 분포의 반전 문제를 해결하는 데 사용한다.측량 하한선을 연장하기 위하여 레이저 입도계제, 제조업체는 잇달아 역부리엽 변환 광학 시스템 [6] 이중 렌즈 기술, 이중 격광 광원 기술 [5], 편광 산란 강도 차 기술 [7] 및 다각도 기술 등을 채용하였다.그중 반림초등[4]은 구조가 간단한 환형견본못방법을 제기하였는데 아미크론과립자에 대해 측정하한선이 낮고 측정정밀도와 신뢰성이 높은 특징을 갖고있다.그들은 또한 입자 산란광 분포의 비정상적인 이동, 아이리반 사이즈의 비정상적인 이동과 입도 분석에 대한 영향[8G10]을 연구했다. 이러한 비정상적인 현상에 대한 연구는 레이저 입도계의 이론적 기초를 보완했다.계기에서 측정할 수 있는 큰 입자의 입경을 측정 상한선이라고 하는데, 입도계의 중요한 기술 지표 중의 하나이다.Swithenbank 등 [11]이 제시한 무인차 준칙은 광전 탐지 단위의 각도 위치와 가대표 입경 수치 간의 대응 관계를 제시하는 동시에 측정 상한의 수치 (즉 소각 탐지기에 대응하는 대표 입경) 를 암시하지만 현재 각종 상품화 기기가 표시하는 측정 상한과는 다르다.물리적 구조로 확정된 레이저 입도계에 대해 그 측정 상한선과 그 계산 방법에 관한 연구는 거의 보도되지 않았다.본고는 이에 대해 이론적 분석과 실험적 검증을 전개하여 최종적으로 상한선을 측정하는 해석 표현식을 제시하였다.