반도체 집적회로 테스트 100fA 프로브

반도체와 나노전자부품 표징, 트랜지스터의 폐쇄전류 측정, 고저항소재 저항률 측정, 나노부품의 전기학적 특성, 스캐닝 프로브 현미경 등 실험에서 부품 크기가 나노급으로 축소되거나 재료가 매우 얇을 때 누전류와 측정대기 전류 자체가 극히 미소하다.이 단계에서 실험자는 전류가 100fA 미만인 탐침대를 사용하여 열 소음, 존 1슨 소음, 진동 소음, 심지어 공기 중 분자 이온화로 인한 전하를 포함한 다양한 소음 및 간섭과 싸워야합니다.