스캐닝 렌즈 고온 원위 시스템스캐닝 전자현미경(SEM)과 고온가열장치를 결합한 과학연구 기기로, 고온 환경에서 재료를 제자리 역학적 성능 테스트와 미시적 구조 관찰을 할 수 있다.

시스템 구성:

스캐닝 선글라스 본체: 2차 전자, 배산사 전자 탐지기 등 고해상도 전자 탐지기를 갖추고 있어 표면이 민감한 고해상도 이미지를 제공하여 샘플의 미시적 형태를 관찰하는 데 사용할 수 있다.

고온원위대: 시스템의 핵심부품으로서 일반적으로 저항가열방식을 채용하여 일정한 온도범위내의 정확한 통제를 실현할수 있다.

제어 시스템: 온도 컨트롤러, 역학 컨트롤러 등 및 상응하는 소프트웨어를 포함하여 온도, 역학 로드 등 조건에 대한 정확한 제어와 실시간 모니터링을 실현할 수 있다.

분석 액세서리: 에너지 스펙트럼(EDS), 전자 배산란 회절(EBSD) 등의 분석 도구를 통합하여 샘플의 형태를 관찰하면서 원소 분석과 결정학적 특징 분석을 할 수 있다.

작동 방식:

선글라스의 전자빔을 스캔하여 샘플 표면을 스캔하여 2차 전자, 배산란 전자 등의 신호를 생성하여 영상을 만드는 데 사용한다.이와 동시에 고온원위대는 견본을 설정온도로 가열하여 진공환경을 유지하는 조건에서 고온에서의 견본의 미시적구조변화를 실시간으로 관찰하고 EDS, EBSD 등 부속품을 결합하여 견본의 화학성분, 결정취향 등 정보를 분석한다.

　　스캐닝 렌즈 고온 원위 시스템특징:

실시간 관찰: 고온에서 재료의 변화를 실시간으로 감시하고 그 행위를 깊이 이해할 수 있다.

고해상도 이미징: 나노 레벨의 미시적 구조 변화를 관찰할 수 있는 고해상도 이미지를 제공합니다.

원소 분석: 원소 분석을 동시에 진행하여 재료의 고온에서의 화학 성분을 확정할 수 있다.

제자리 실험: 가열, 냉각 및 기계 테스트를 동시에 수행하여 실제 세계 조건에서 재료의 행동을 시뮬레이션 할 수 있습니다.