스펙트럼 타원형계굴절률, 소광계수와 같은 재료의 광학적 성질, 박막 두께 (나노미터에서 마이크로미터급까지) 및 표면/인터페이스의 미시적 구조 정보를 분석하는 데 주로 사용되는 고정밀 광학 측정 기기입니다.빛의 편광 상태를 이용해 재료 표면에 반사되거나 투사된 뒤 변화하는 것이 핵심 원리로, 이런 변화 반추재료의 물리적 특성을 해석해 반도체, 광학필름, 나노소재, 바이오메디컬 등에 널리 활용된다.

이 설비는 조작할 때 접촉하지 않고 손상없이 측정할수 있으며 견본을 파괴하지 않는다.두께 측정은 나노미터급에 달합니다.태그 또는 사전 처리 없이 다양한 재료에 적용됩니다.

선택 구매스펙트럼 타원형계다음 사항에 주목할 수 있습니다.

1. 스펙트럼 범위: 측정 재료의 광학 특성에 따라 적합한 스펙트럼 범위를 선택한다.예를 들어, 투명 재료는 굴절률 스펙트럼 영역에 초점을 맞추고 단파 흡수 재료는 적외선 투명 영역으로 확장하여 두께를 결정할 수 있습니다.

2. 측정 정밀도와 중복성: 정밀도는 핵심 지표로 표준 샘플 (예: 공기) 을 통해 정확성을 검증해야 한다;중복성은 기기의 안정성을 반영하기 때문에 여러 차례 비교 결과를 측정해야 한다.

3. 입사각 방식: 다각도 측정은 신뢰성을 높일 수 있지만 모든 장면이 필요한 것은 아니다.다층막, 흡수막 등 복잡한 구조는 다각도로 측정해야 하는데 간단한 박막은 단각도로 하면 된다.

4. 분석 소프트웨어: 타원형 측정은 비직접 측정이고 데이터는 의합 분석을 해야 한다.소프트웨어는 빠르고 정확한 매개변수 반전을 지원하기 위해 풍부한 재료 데이터베이스, 유연한 모델 구축 능력 및 효율적인 알고리즘을 갖추어야합니다.

5. 하드웨어 구성: 수요에 따라 회전 보상기, 자동 변각 받침대, 집결 빔 기술 등 하드웨어를 선택한다.