1. 기술원리

저점도 레이저 입자 계수기는 주로 광저항법 (차광법) 과 레이저 산란법 원리에 기초한다.액체 샘플이 검사 채널을 통과하면 입자가 레이저 빔을 가리거나 산란하여 빛 신호를 생성합니다.이러한 광신호는 민감도가 높은 광전 센서에 포착되어 전기 신호로 변환되며 데이터 처리 시스템을 통해 입자의 크기와 양을 분석합니다.

1. 광저항법(차광법)

광저항법은 레이저에 대한 입자의 가려진 정도를 측정하여 입자의 크기와 수량을 확정하는 것이다.입자가 레이저 빔을 통과하면 빛의 일부가 차단되어 그림자가 형성됩니다.센서가 감지한 빛의 강도 변화는 입자의 크기와 정비례한다.

2. 레이저 산란법

레이저 산란법은 레이저에 대한 입자의 산란광 강도를 측정하여 입자의 특성을 분석하는 것이다.입자가 레이저 빔을 통과할 때 산란광이 발생하는데, 산란광의 강도와 각도는 입자의 크기와 모양과 관련이 있다.

1. 고정밀도: 나노급 입자를 검출할 수 있다.

2. 빠른 검사: 짧은 시간 내에 샘플의 검사를 완료할 수 있습니다.

3. 반복성이 좋다: 여러 번 측정한 결과의 일치성을 확보한다.

4. 다중 채널 검사: 여러 개의 입경 범위를 동시에 검사할 수 있다.

3. 응용장면

저점도 레이저 입자 카운터는 다음 영역에 널리 사용됩니다.

1. 반도체 제조: 포토레지스트의 입자 오염을 검측하여 포토레지스트의 청정도를 확보한다.

2. 제약업종: 주사액, 초순수중의 불용성미립자를 검측한다.

3. 화학공업분야: 화학시약, 세척제중의 과립오염을 검측한다.

4. 전자업종: 전자제품 생산중의 과립오염을 검측한다.

4. 사용자 조작 지침

1. 준비 작업

- 청소 장비: 장비 및 샘플링 시스템의 청소를 보장하고 외부 오염을 방지합니다.

- 교정기기: 표준 입자 용액을 사용하여 교정하여 측정 정밀도를 확보한다.

2. 샘플 처리

- 샘플링: 샘플링의 정확성과 대표성을 보장하기 위해 전용 샘플링기를 사용합니다.

- 사전 처리: 필요에 따라 시료를 여과하거나 희석하여 방해 요소를 제거합니다.

3. 측정 과정

- 매개변수 설정: 샘플 유형 및 검사 요구 사항에 따라 적합한 검사 매개변수를 설정합니다.

- 검사 시작: 검체를 검사 통로에 주입하고 측정 기구를 가동하여 검사한다.

- 데이터 로깅: 입자 수, 입경 분포 등을 포함한 검사 결과를 기록합니다.

4. 데이터 분석

- 통계 분석: 관련 소프트웨어를 이용하여 데이터를 통계 분석하고 입자 분포 도표를 생성한다.

- 보고서 생성: 분석 결과를 기반으로 검사 보고서를 생성하여 간편하게 아카이빙하고 추적할 수 있습니다.

5. 유지보수와 정비

1. 정기적인 청결: 정기적으로 기기와 샘플링 시스템을 청결하고 설비의 청결을 유지한다.

2. 정기 교정: 정기적으로 표준 과립 용액을 사용하여 교정하여 측정의 정확성을 확보한다.

3. 저장 조건: 기구를 건조하고 청결한 환경에 보관하여 먼지와 습기를 피한다.

저점도 레이저 입자 카운터는 고정밀도, 빠른 검측 및 반복성이 좋은 특징으로 현대 산업 생산에서 중요한 검측 도구가되었습니다.설비를 정확하게 사용하고 유지함으로써 사용자는 생산 효율을 효과적으로 향상시키고 제품의 품질을 확보할 수 있다.