착지식 X선 연사기는 주로 X선 연사 원리를 통해 물질의 결정 구조, 직조 및 응력 상태를 분석하는 데 사용되며, 재료 과학, 광물학, 물리학 등 분야에 널리 응용된다.
이 장치는 결정 재료의 결정 매개변수 (예: 결정 간격), 원자 좌표 위치 및 재료의 물상 구성 및 결정 취향 분포를 측정 할 수 있습니다.연사봉의 위치, 강도 및 형상을 통해 정성분석과 정량분석을 실현할수 있으며 금속, 도자기, 박막, 중합물 등 각종 재료에 적용된다.디바이스에는 측정 분석, 데이터 보기 및 데이터 변환을 위한 분석 소프트웨어가 포함되어 있으며 시스템 데이터 도킹 공유를 위한 전송 및 관리가 용이합니다.직관적이고 사용자 친화적이며 교육이 필요 없으며 기술자가 아니더라도 쉽게 사용할 수 있습니다.
핵심 구성 요소
X선 발생기: 9kW와 같은 고출력, 0.1% 이상의 안정성, Cu, Mo와 같은 표적 전환을 지원합니다.
각도 측정기: 2축 연동 기구, 각도 위치 정밀도 0.0025 °, 2 × 범위 0-145 ° 스캐닝 지원.
탐지기: 고속 1차원 실리콘 배열 탐지기, 계수율 > 4 × 10 ⁶cps, 배경 소음 <0.2 cps.
샘플대: 분말, 블록체, 박막 샘플과 호환되며 투과/반사 모드 및 고온 (실온 -1200 ℃), 저온 등 비상규 조건 테스트를 지원한다.
운영 프로세스 및 고려 사항
샘플 제조
분말 샘플: 마이크로미터급 (300개 체 이상) 으로 연마하고 배압 법제편을 사용하여 표면이 평평하도록 확보한다.블록체/박막: 사이즈 1×1cm~2.4×2.4cm, 두께 <1cm, 시험면 표기.
계기교정: 규소, Al₂O와 같은 표준물질을 사용하여 각도와 강도를 교정하여 데이터의 정확성을 확보한다.매달 탐측기 검사를 실시하는데 각도 편차가 0.0025 ° 일 때 하드웨어 조정이 필요하다.
보안 사양
실험 환경: 온도 변동 ± 0.5 ℃/h, 습도 <60%, 진동 방해를 피한다.
보호조치: 보호안경, 장갑을 착용하고 조작할 때 보호문을 닫아 X선이 루출되지 않도록 방지해야 한다.