샘플 샘플 측정의 한계를 깨다 비행시 맨머리 스캐닝 원자력 현미경

프로브 스캐닝식 원자력 현미경 (FM-Nanoview LS-AFM) 은 많은 전통적인 원자력 현미경 구조와 시료 측정 시료상의 한계를 깨고 * 선양산화 상품화로 시료 부동, 탐침 이동 스캐닝을 실현할 수 있는 원자력 현미경이다.샘플의 크기, 무게에 대한 기존의 원자력 현미경의 한계를 타파하다.초대형견본측량을 적용하는 동시에 비시만도 견본대의 확장성을 증강하여 편리한 다계기련용제자리측량을 실현하였다.고객의 요구에 따라 프로브 스캐닝식 원자력 현미경을 주문 제작할 수 있다.반도체 재료와 그래핀 재료의 샘플링 연구에 광범위하게 응용된다.