IT2800 소스 표나안(A)급 저전력 테스트 최적화 방안

마이크로전자 기술의 신속한 발전과 설계 수준의 향상에 따라 칩의 집적도와 연산 데이터량이 현저하게 증가한다.이로 인해 칩의 전력 소비량이 급격히 증가했다.따라서 칩은 저전력 설계와 테스트를 해야 한다.IOT 기기, 휴대용 배터리 전원 공급 제품 등 같은 생활 속 일부 전자제품도 장시간 작동 상태를 보장하기 위해 저전력 테스트를 해야 한다.

저전력 테스트의 특징

정적 전류는 점점 낮아지고, uA 휴면 전류, 심지어 nA-급 누전 전류

신호가 복잡하고 동적 전류의 변화 범위가 넓으며 마이크로암페어 (uA) 휴면 전류가 수백 mA 심지어 몇 A의 발사까지

전류

전류 펄스 폭이 좁아서 일반적으로 몇 백 마이크로초에서 밀리초 급이다

높은 샘플링 속도와 장시간 연속 측정 필요

저전력 테스트 시나리오

기존 시나리오 1, 고성능 전원 + 수만 개의 미터

이것은 주로 저전력 테스트가 종종 동적 특성이 빠르기 때문에 전원 정밀도가 높고 응답 속도가 빨라야 하며, 또한 전원 자체의 회독 속도가 비교적 느리기 때문에 누락 전류의 돌연변이를 피하기 위해 항상 디지털 만용계와 협력하여 데이터 수집을 진행해야 한다.

기존 시나리오 2, 전원 분석기 + 고정밀 전원 / 소스 테이블

전원 분석기로 데이터를 분석하고 기록하여 디지털 미터 기능을 대체합니다. 이 둘은 가격이 매우 비싸고 때로는 유료 소프트웨어와 함께 테스트를 마쳐야 합니다.