OMNISCAN X3 전체 초점 위상 배열 프로브 기능 데모

위상 배열 기술을 이용한 부식 검사는 넓은 커버리지와 뛰어난 해상도를 포함하여 많은 이점을 가지고 있습니다.그러나 위상배열 기술을 익히는 것은 어느 정도 도전적이다.OmniScan X3 프로브는 정교하게 설계된 소프트웨어와 간단하고 부드러운 메뉴를 통해 사용자에게 고급 기능을 제공하여 사용자가 정확한 데이터를 쉽고 쉽게 얻을 수 있도록 합니다.

• 장비가 제공하는 고급 도구:전체 초점 방식(TFM) 이미지, 부식 또는 다음과 같이 탐지하기 어려운 기타 손상 현상을 감지하는 데 사용할 수 있습니다.고온 수소 결함(HTHA)화수소균열(HIC)
• 매우 간단한 설정으로 다중 포함64개의 웨이퍼 구멍 지름우수한 해상도의전체 초점 방식(TFM)이미지
• 어떤 수준의 작업자도 기기를 사용할 때뜻대로 되다
• 단순화된 메뉴 구조 및 설정 마법사 덕분에복잡한 솔루션을 보다 쉽게 설정(예: HydroFORM 검사기와 함께 수행된 테스트)