작동 원리

에너지 색산형 XRF(ED-XRF)는 반도체 탐지기를 통해 시료가 자극받은 후 발생하는 특징인 X선을 직접 받아 에너지에 따라 전기 신호로 변환하고 전자학 회로 처리를 거쳐 원소 특징 스펙트럼 선을 형성한다.그 핵심은 분광결정 없이 탐측기 에너지 해상도를 통해 서로 다른 원소를 구분하여 다원소 동시 검측을 실현하는 데 있다.

파장 분산형 XRF(WD-XRF)는 결정 회절 효과를 이용해 특징인 X선을 파장에 따라 서로 다른 스펙트럼 선으로 분산한다.시료가 자극되면 분광결정체는 부동한 파장의 X선을 분리하고 탐측기는 특정파장신호를 접수하여 프라하의 법칙과 결부하여 원소분석을 실현한다.그 핵심은 분광결정의 파장에 대한 정확한 선별로 고해상도 검사를 확보하는 데 있다.

우위 경계

해상도 및 감도

WD-XRF는 분광결정체를 채용하여 린접원소의 특징스펙트럼선을 효과적으로 분리할수 있으며 해상도가 더욱 높으며 특히 흔적원소분석 (검측한도가 μg/g급에 달한다.) 에 적합하다.ED-XRF 해상도는 상대적으로 낮지만 고에너지 광자 범위 내에서 더 우수하며 가벼운 기체 조건에서 10~10²μg/g 레벨까지 측정할 수 있다.

분석 속도 및 운영 편의성

ED-XRF는 분광결정체를 교체할 필요가 없어 모든 원소를 동시에 감지할 수 있으며 분석 속도(60~100초 동안 다원소 측정 완료)가 빠르고 조작이 간편하여 생산라인의 빠른 선별검사에 적합하다.WD-XRF는 요소에 따라 결정체를 선택해야 하기 때문에 단일 요소 분석에 2~5분 정도 걸리지만 다중 채널 분석기는 다중 요소 검사 시간을 단축합니다.

샘플 적응성

ED-XRF는 샘플 형태에 특별한 요구 사항이 없으며 고체, 분말, 액체를 직접 분석 할 수 있으며 불규칙 샘플 검사에 적합합니다.WD-XRF는 검측 정밀도를 보장하기 위해 고체 연마, 분말 압편과 같은 샘플 표면이 평평해야 하지만, 샘플링 설비는 쉽게 구할 수 있고 샘플링 과정은 표준화된다.

장비 비용 및 유지 관리

ED-XRF는 구조가 단순하고 전력이 낮으며(<100W), 고출력 냉각 시스템이 필요 없으며, 장비 비용이 적게 들고(4만~15만), 유지 보수가 간편하다.WD-XRF는 고출력 엑스레이 튜브(1-4kW) 및 정밀 분광 시스템을 갖추고 있어 장비 비용(10만~40만)이 많이 들지만 긴 수명(>10년)으로 장기 안정성이 우수하다.

적용 시나리오

ED-XRF: 플라스틱 제품 RoHS 규정 준수 검증, 광석 품위 온라인 모니터링과 같은 산업 품질 검사, 환경 모니터링과 같은 신속한 검사가 필요한 장면에 적용됩니다.

WD-XRF: 토양의 중금속 함량 측정, 광물 성분 해석과 같은 과학 연구, 지질 탐사 등 고정밀 분석이 필요한 장면에 적용됩니다.