모듈

GB31241-2014 GB/T314385-2015GB/T31467.3-20 시험표준, 전지성능시험, 환경적응성 및 신뢰성시험, 안전테스트 등, 고온성능시험, 항정온습테스트, 열충격테스트, 저압테스트 등 환경신뢰성시험부분에 부합된다.

셀

GB31241-2014 GB/T314385-2015GB/T31467.3-20 시험표준, 전지성능시험, 환경적응성 및 신뢰성시험, 안전테스트 등, 고온성능시험, 항정온습테스트, 열충격테스트, 저압테스트 등 환경신뢰성시험부분에 부합된다.

태양광 패널

케이스 보호, 저온, 고온, 충격, 진동, 습열, 부식 방지 등, 실리콘 조각 노화 테스트, 온습 저장, 온도 85 ° C, 습도 85% 습열 저장 1000h 후 부품 전력 감쇠 테스트.

원자력 발전

고저온, 냉열 충격, 습열 교차, 온도 순환 등, 원자력 발전 부대 설비 및 전자 부품 외부 응력, 예를 들면 환경 온도 복사 진동 충격 또는 기타 기계 및 화학 응력은 모두 부품의 노화를 가속화한다.고온 및 온도 순환도 전자 부품과 전자 설비의 노화의 주요 원인이다.

현장 교환 촬영