Tafel 커브 테스트 및 분석은 어떻게 수행합니까?

1. LSV 메서드 선택(Linear Sweep Voltammetry)

2. 다음 테스트 파라미터를 설정합니다: 회로 전위에 비해 극화 전압 스캐닝 범위는 -300mV에서 +300mV이며 스캐닝 속도는 1mV/s입니다.

3. 데이터 분석: Zahner Analysis 분석 소프트웨어를 사용하여 LSV 데이터를 열고, Plot Presets는 데이터 표시 방식을 log I vs U로 설정합니다.

방법(1): Tafel Slope Analysis